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利用自热电流表征超导纳米线均匀的方法和实现装置
本发明公开了一种利用自热电流表征超导纳米线均匀的方法和实现装置,该方法包括:激光照射超导纳米线,激发热岛;IV精细扫描,形成由自热电流IV曲线组成的自热电流空间分布图;基于所述自热电流空间分布图,提取自热电流,自热电...
赵清源柳震
一种纳米薄膜材料厚度和密度均匀的测量方法
本发明属于纳米薄膜材料测量相关技术领域,其公开了一种纳米薄膜材料厚度和密度均匀的测量方法,方法包括:采用穆勒矩阵椭偏仪测量对应的实际穆勒矩阵和实际退偏度;依据菲涅尔反射理论获取待测样品的幅值比和相位差并将其代入待测样...
刘世元刘佳敏李磊江浩张林
基于缩放系数的用于OLED显示器均匀补偿的可配置像素均匀补偿
本公开涉及基于缩放系数的用于OLED显示器均匀补偿的可配置像素均匀补偿。本发明公开了一种系统,该系统可包括具有像素的电子显示面板,其中每个像素可基于相应的编程信号发射光。该系统可包括存储标测图的存储器。处理电路可确...
郜盛魁 立海峰 S·阿卢西 M·J·德文森蒂斯 毕亚飞 林鸿昇 乔轶 P·萨彻托 姚卫军 P-Y·埃米利 杨茂峰 褚岳
一种薄膜纵向均匀检测方法、装置及终端和检测系统
本发明公开一种薄膜纵向均匀检测方法、装置、检测系统以及终端,涉及薄膜检测技术领域,以提高无损检测薄膜纵向均匀方法的适用范围。该薄膜纵向均匀检测方法包括:接收被测样品的椭偏光谱曲线信息,被测样品至少包括被测薄膜...
孙瑶 钟大龙 王新宇
等离子体腔室阵列成像监测装置及空间均匀校准方法
一种等离子体腔室阵列成像监测装置及空间均匀校准方法,涉及半导体刻蚀技术领域,解决的技术问题为“开发一种实时监测等离子体放电状态的装置,并对其空间均匀进行评估校准”,装置包括:腔室、第一成像监测模块和第二成像监测模...
朱悉铭贾军伟王璐康永琦董学江宋琦黄春月
等离子体腔室阵列成像监测装置及空间均匀校准方法
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朱悉铭贾军伟王璐康永琦董学江宋琦黄春月
一种基于悬浮微球的小尺度范围电场均匀检测装置及方法
本发明公开了一种基于悬浮微球的小尺度范围电场均匀检测装置及方法,利用由激光形成的竖直向上光阱捕获微球,在高真空下对微球三轴冷却并稳定悬浮;分别在悬浮微球上下两侧放置平行电极板,改变施加在平行电极板上的电压,并同时改变...
胡慧珠许新财李楠陈杏藩刘承刘瑞
一种图像处理路基沉降均匀评价方法
本发明提出了一种图像处理路基沉降均匀评价方法,通过采集待评价路段的同断面沉降位置的图像,并将采集到的图像进行预处理,中值滤波能够有效去除图像的噪声、提高采集图像的质量,方便后续的色彩比值处理与提取。通过预处理后的图...
洪磊赵华宏王辉唐俊袁自波
一种定量表征非晶合金均匀的方法
本发明公开了一种定量表征非晶合金均匀的方法,属于非晶合金表征技术领域。本发明提供的方法包括如下步骤:控制纳米探针在非晶合金样品待扫描区域内逐点扫描,生成每个点的压力‑位移曲线;利用Derjaguin‑Muller‑T...
王峥孟森宽胡丽娜
一种图像处理路基沉降均匀评价方法
本发明提出了一种图像处理路基沉降均匀评价方法,通过采集待评价路段的同断面沉降位置的图像,并将采集到的图像进行预处理,中值滤波能够有效去除图像的噪声、提高采集图像的质量,方便后续的色彩比值处理与提取。通过预处理后的图...
洪磊赵华宏王辉唐俊袁自波

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作品数:2,358被引量:1,450H指数:18
供职机构:哈尔滨工业大学
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作品数:124被引量:0H指数:0
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研究主题:显示装置 像素电路 发光 显示面板 移位寄存器单元
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研究主题:高密度等离子体 气相沉积 膜材料 不均匀性 反应气体
褚卫国
作品数:202被引量:51H指数:4
供职机构:国家纳米科学中心
研究主题:衬底 高密度等离子体 锂离子电池正极材料 气相沉积 锂