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- 谷东伟周禹彤李伟亮龙哲金山张铭文杨金龙李奇涵李念洹
- 一种空间MOSFET加速退化试验评估方法
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- 陈海涛田前程张华辉姜煜煜任杰伟丁帅王磊黄军杨华
- 基于加速退化试验的漏电信号调理电路性能退化及可靠性研究被引量：2
- 2024年
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- 牛峰张博恒李贵衡戴逸华项石虎李奎
- 关键词：加速退化试验WIENER过程电子电路
- 一种基于最小偏差度的加速退化试验优化设计方法
- 本发明涉及一种基于最小偏差度的加速退化试验优化设计方法，包括：确定出用于计算相对误差的优化目标函数和设计变量，并构造出全排列备选方案集；计算所有试验应力水平条件下对于正常应力水平的加速因子；抽取一个备选方案并计算其计算样...
- 锁斌齐洋方艳红杨童博
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- 一种基于博弈论的多元加速退化试验优化方法
- 本发明公开了一种基于博弈论的多元加速退化试验优化方法，涉及可靠性工程加速退化试验技术领域；该方法包括如下步骤：根据目标产品的多个性能退化特征，构建对应的多个加速退化模型；基于多个加速退化模型，获得多个性能退化特征的联合分...
- 杨兆军阿喜塔陈传海刘志峰郭劲言齐宝宝杨尚蔡江讯
- 一种电连接器聚氨酯胶绝缘件加速退化试验方法
- 本发明提供一种电连接器聚氨酯胶绝缘件加速退化试验方法，包括确定应力水平组合；确定退化量最优分布函数；确定退化轨迹模型；确定绝缘可靠度函数形式；确定与产品所受应力有关的参数；建立多元线性回归模型，本发明建立的基于加速退化数...
- 张国泰钱萍陈文华涂天颖施佳煜章建
- 一种基于全局代理优化的加速退化试验设计方法和装置
- 本公开的实施例提供了一种基于全局代理优化的加速退化试验设计方法和装置。属于可靠性工程领域，所述方法包括：基于产品性能退化历史数据建立产品的加速性能退化模型；确定试验设计变量，结合产品的加速性能退化建模及可靠性分析，构建优...
- 王治华李璐吴琼刘根王波史晓帆冯俊皓张靖雅曾鹏骏
- 基于温度循环加速退化试验的光纤连接器寿命评估
- 2024年
- 针对光纤连接器在温度交替变化下寿命评估难的问题,提出一种基于修正Coffin-Manson模型的寿命评估方法。首先,分析了光纤连接器失效模式、机理。接着,开展光纤连接器多个加速应力水平下的温度循环加速退化试验,基于插入损耗加速退化数据建立幂函数退化轨迹模型。然后,结合插入损耗的失效阈值,通过假设检验推导不同加速应力水平下光纤连接器的伪失效寿命。最后,引入修正Coffin-Manson加速模型,进而外推空间环境下光纤连接器寿命。本方法评估的某光纤连接器在实际应力水平下的寿命与实际寿命比较接近,验证了修正Coffin-Manson模型方法对光纤连接器寿命评估的有效性和可行性。
- 张楠冯业为李鹏张泽明张泽明
- 关键词：光纤连接器温度循环试验加速退化试验
- 基于加速退化试验的脉宽调制器贮存寿命预测研究
- 2024年
- 脉宽调制器作为开关电源的核心器件,已广泛应用于航天器中,但其贮存寿命会影响电源系统的可靠性,进而影响航天器任务执行的成败。在寿命评估中,加速退化试验是常用的试验方法,其中激活能值是预测器件贮存寿命的关键,但目前相关标准只有器件激活能值的参考范围,缺乏试验相关条件设置的详细描述,这会影响寿命评估的精度。为此,文中以JW1525脉宽调制器为研究对象,分析JW1525的结构及工作原理,设计并完成72 h的加速退化预试验,得到器件的退化敏感参数作为输出电压。根据预试验结果设计并完成440 h的加速退化正式试验,并结合Arrhenius模型对正式试验结果进行数据处理,得到JW1525的激活能为0.29 eV,常温下贮存寿命将近70年。通过详细的器件结构分析和试验开展,得出脉宽调制器的激活能和常温贮存寿命,可为后续研究提供数据和试验基础。
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- 关键词：加速退化试验脉宽调制器激活能
相关作者
- 李晓阳
- 作品数：126被引量：192H指数：7
- 供职机构：北京航空航天大学
- 研究主题：退化数据 可靠性 加速退化试验 加速寿命试验 可靠度
- 姜同敏
- 作品数：173被引量：776H指数：14
- 供职机构：北京航空航天大学
- 研究主题：可靠性 加速寿命试验 退化数据 可靠性强化试验 加速退化试验
- 陈循
- 作品数：241被引量：1,544H指数：21
- 供职机构：国防科学技术大学
- 研究主题：加速寿命试验 可靠性 可靠性强化试验 加速退化试验 气动式振动台
- 张国龙
- 作品数：33被引量：69H指数：5
- 供职机构：中国人民解放军军械工程学院
- 研究主题：加速退化试验 应力 优化设计 可靠性评估 加速寿命试验
- 梁玉英
- 作品数：96被引量：283H指数：9
- 供职机构：中国人民解放军军械工程学院
- 研究主题：可靠性评估 雷达 加速退化试验 应力 加速寿命试验
