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生成可测性 设计脚本的方法、装置、电子设备及存储介质 本公开提供了一种生成可测性 设计脚本的方法、装置、电子设备及存储介质,属于可 测试性设计技术领域,该方法包括:根据待测需求参数中的测试技术指示信息,确定待测目标的测试技术;根据待测目标的测试技术和待测需求参数中的待测目标信息... 杨雷 王盼盼 黄新东 于天笑Banach指标函数的可测性 2024年 我们对于一个几何上双重度量空间的可 测映射的Banach(巴拿赫)指标函数建立了其可测性 这是Euclid(欧几里得)空间连续变换一个已知结果的推广。度量空间中二进立方体系统被利用来构造收敛到指标函数的一个可 测函数列,这里我们部分遵循Banach原来的证明. Nikita Evseev 陆柱家(译) 童欣(校)关键词:度量空间 欧几里得 BANACH 可测函数列 巴拿赫 可测性 SOC可测性 设计的优化理论研究 2024年 随着现代电子技术的飞速发展,系统级芯片(System on a Chip,SOC)已成为各种电子系统中的核心组件。作为一种高度集成的电路,SOC实现了许多原本需要大量独立组件才能实现的功能。在传统的电子系统中,电路的设计和制造通常是由不同的团队独立完成的,这种分离的操作方式导致了很多问题,如测试成本高、测试时间长等。为了解决这些问题,可测性 设计(Design for Test,DFT)变得越来越重要。可测性 设计是一种将测试纳入设计流程中的方法,它旨在提高电路的可测性 ,从而降低测试成本和测试时间。本文将深入探讨SOC可测性 设计的优化理论,通过有效的策略和实施方法,提高测试效率并降低测试成本。 徐美娟关键词:系统级芯片 可测性设计 基于Memory Shared Bus结构的可测性 设计 近年来,系统级芯片设计技术飞速发展,多核中央处理器(CPU)架构以其优秀的处理性能成为新一代主流设计架构。随着芯片工艺尺寸的不断缩小,片上规模庞大、晶体管集成度高、电路结构复杂的多核中央处理器架构芯片给芯片的测试工作带来... 雷鹏关键词:可测性设计 存储器内建自测试 共享总线 一种集成电路的可测性 电路结构 本发明提供了一种集成电路的可测性 电路结构,包括:输入寄存器,输入寄存器中存储第一寄存值或第二寄存值,其中第一寄存值用于启用可测性 电路结构的第一工作模式或默认工作模式,第二寄存值用于启用可测性 电路结构的第二工作模式;扫描结... 江哲 田陌晨 温德鑫 祝俊东一种芯片可测性 代码动态仿真测试系统及测试方法 本发明涉及集成电路仿真测试技术领域,公开了一种芯片可测性 代码动态仿真测试系统及测试方法,系统包括:软件模块,用于获取预设格式的测试向量,通过动态链接库对测试向量进行解析获得测试数据,并按照预设测试周期将测试数据动态加载至... 洪志伟 朱鹏一种适用于芯片可测性 设计的复位信号生成方法 本发明公开了一种适用于芯片可测性 设计的复位信号生成方法,可 以将芯片内部的时钟信号通过构建时钟选择模块、时钟链模块,经过测试功能信号、压缩功能信号、扫描链功能信号等相关控制及输入信号的激励,最终输出为复位信号。本方法可 以实... 刘丽东 王洪超 闫阳一种嵌入式EEPROM的可测性 设计方法、系统及终端 本发明属于存储器测试技术领域,公开了一种嵌入式EEPROM的可测性 设计方法、系统及终端,从外部接口将数据写入SRAM;逻辑自动将SRAM的数据写入EEPROM;逻辑复位,复位后逻辑自动从EEPROM将数据读出并写入SRA... 周清军 曹敬馨一种芯片可测性 代码动态仿真测试系统及测试方法 本发明涉及集成电路仿真测试技术领域,公开了一种芯片可测性 代码动态仿真测试系统及测试方法,系统包括:软件模块,用于获取预设格式的测试向量,通过动态链接库对测试向量进行解析获得测试数据,并按照预设测试周期将测试数据动态加载至... 洪志伟 朱鹏
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