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- 浅析农业物料电学性质在加工中的应用
- 2025年
- 该文通过对国内外相关文献的深入分析和总结,概述了农业物料的电学性质,分析了农业物料的电学特性及农产品利用物料的电学特性进行加工处理的具体应用,主要包括农产品的品质检测、种子的处理、加热与杀菌保鲜、干燥与脱水等;探索其在现代农产品加工过程中的应用前景,并对今后的相关应用研究方向进行了展望。
- 李庭
- 关键词:农业物料电学性质
- 一种预测环氧树脂基类绝缘子电学性质的方法
- 本申请公开了一种预测环氧树脂基类绝缘子电学性质的方法,涉及环氧树脂绝缘材料技术领域。其通过构建环氧树脂基绝缘材料的分子模型并对其结构进行优化,模拟外加电场下的行为,计算偶极矩和极化率,分析分子轨道以及建立宏微观关联模型,...
- 冉帅肖江滔夏建华屈文锋张兆闯黄羽
- 非静水压作用下石膏电学性质的理论研究
- 2025年
- 地球内部广泛存在着差应力,这些外在因素的存在影响着矿物的性质,而矿物的电学性质与结构相变息息相关.为了更加了解地球内部结构与动力学过程,采用第一性原理方法,在等效平衡压0~10 GPa范围内计算地球内部浅层矿物石膏在静水压和非静水压条件下的电学性质.计算结果表明:静水压和非静水压条件下无水石膏的密度和带隙变化基本一致,但二水石膏的密度和带隙在非静水压为6 GPa附近发生突变,这可能是由于非静水压环境使晶体结构更容易发生畸变,更有利于水分子氢键网络的重新排列和CaSO_(4)层间结构的塌缩,因此非静水压下可能更加有利于二水石膏在高温高压下的脱水反应.这对理解地幔中矿物的脱水和储水产生重大的影响,为理解地幔中矿物的脱氢和储水提供理论依据.
- 周梅吴雷罗小松何宗润
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- 一种薄膜样品的电学性质测量方法
- 本发明涉及材料科学领域,一种薄膜样品的电学性质测量方法,将电晕探针切换到探头的探针位I;控制位移台将栅网移动至样品上方三毫米距离处,并通过电压源对其施加电压,所述电压典型值为50V;控制位移台将金属罩移动至栅网上方四毫米...
- 金雄军范晓雯张向平赵永建
- 高压下典型三卤化物的结构与电学性质研究
- 石墨烯的发现点燃了物理、化学和材料科学等领域对二维材料的跨学科研究。随后,层状三卤化物CrI3剥离出的单层、双层和三层的二维材料展现了不同的磁学性质,依次呈现铁磁性,反铁磁性和铁磁性。这一新奇的物理发现成为二维材料领域重...
- 蔡锦群
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- 含裂隙水合物储层各向异性电学性质模拟方法
- 本发明提出一种含裂隙水合物储层各向异性电学性质模拟方法,涉及海洋地球物理勘探领域。基于有效介质模型提出通过两步式建模方法以获得储层各向异性电学性质,特别是在确定裂隙中水合物在桥接分布形态下纵横比的提前条件模拟计算含裂隙储...
- 刘圣彪 韩同城
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- 一种高压下原位测量半导体材料电学性质的方法
- 本发明公开了一种高压下原位测量半导体材料电学性质的方法,包括在金刚石对顶砧面上形成金属电极的电极形成步骤,所述电极形成步骤包括:在金刚石对顶砧面上形成一层钼电极膜;对所述钼电极膜进行图形化,以形成所需的电极图案;在所述钼...
- 潘跃武韩崇张乐康健张磊张宁杨峰韩百萍赵恩兰王磊董妍
- 一种高压下表征和/或调控半导体材料电学性质的方法
- 本发明属于半导体技术领域,具体涉及一种高压下表征和/或调控半导体材料电学性质的方法。本发明利用金刚石对顶砧装置对半导体材料进行加压,测试高压原位下样品的电阻变化和温度。随着压强的增加,由于分子间距离减小,电子去局域化,因...
- 张盈姚明光刘冰冰
- 基于STM32的非接触式材料电学性质测量方法及系统
- 本发明提供基于STM32的非接触式材料电学性质测量方法及系统,方法包括:利用电涡流传感器靠近不同的被测材料,测量电路响应变化,以得到电涡流传感器的电感变化数据;根据电感变化数据,进行电磁场理论分析、电涡流传感器理论分析、...
- 李帷韬 王天齐 金宇奇 代陆 董开阳 李志军 闫锦涛 房楚博李奇越孙伟张倩张志强
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- 作品数:149被引量:70H指数:5
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- 作品数:123被引量:33H指数:4
- 供职机构:中国科学院微电子研究所
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- 夏洋

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