搜索到39篇“ IDDQ测试“的相关文章
- 一种普遍适用于LSI的IDDQ测试图形设计方法
- 本发明涉及LSI(内嵌CPU)筛选测试领域，提供了一种IDDQ测试图形设计方法。使用CPU(300)指令控制寄存器(301)以及存储器(302)，把其分别设置为DEFAULT、00、55、AA、FF状态，实现部分寄存器(...
- 赵来钖盛娜李焕春
- 文献传递
- 一种用电流差值来判断IDDQ测试的方法
- 本文公开了一种用电流差值△IDDQ(MAX(IDDQ_1，IDDQ_N)‑MIN(IDDQ_1，IDDQ_N))来判断IDDQ测试结果，用于提高IDDQ故障以及桥接故障的测试覆盖率。本方法可以改进现有只用两个测试点的差值...
- 赵来钖
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- 基于IDDQ测试的VLSI门内电阻式桥接故障仿真被引量：2
- 2016年
- 为真实模拟集成电路中的桥接故障并评价测试集质量,提出一种基于静态电源电流(IDDQ)测试的逻辑电路门内电阻式桥接故障仿真算法.首先,针对该故障类型,提出一种覆盖率评价标准;其次,利用电路级故障注入与仿真方法构造基本逻辑门单元的故障字典;最后,通过在逻辑电路功能仿真中查询故障信息实现门级的故障仿真.仿真实验表明:相比于传统方法,所提方法能更好地反映测试集对真实桥接故障的覆盖效果,并具备良好的仿真效能.
- 许爱强唐小峰牛双诚杨智勇
- 关键词：故障仿真
- CMOS器件的IDDQ测试
- CMOS器件的DDQ测试。方法实施例包括应用测试图案输入至一器件，此器件包括一个或多个CMOS(互补金属氧化物半导体)晶体管，以及针对此器件获得电流测量，电流测量中的每一个是应用该测试图案的输入至该器件之后对电流的测量。...
- 薛真成
- 文献传递
- CMOS器件的IDDQ测试
- CMOS器件的IDDQ测试。方法实施例包括应用测试图案输入至一器件，此器件包括一个或多个CMOS(互补金属氧化物半导体)晶体管，以及针对此器件获得电流测量，电流测量中的每一个是应用该测试图案的输入至该器件之后对电流的测量...
- 薛真成
- 文献传递
- IDDQ测试方法及发展被引量：1
- 2009年
- 本文介绍了IDDQ电流测试方法的基本原理,IDDQ测试在集成电路测试系统上的实现方法。现在IDDQ电流测试成为CMOS电路故障检测的重要项目,已广泛用于测试功能测试不能发现的制造过程所产生的故障。以及随着深亚微米技术出现,IDDQ测试受到严峻的挑战。
- 庹朝永
- 关键词：测试技术CMOS电路深亚微米技术IDDQ测试
- 深亚微米工艺下芯片的IDDQ测试技术的研究及应用
- IDDQ测试理论一经提出,便引起了集成电路领域的广泛关注。作为有效的VLSI测试手段,IDDQ测试在检测芯片的物理缺陷,提高测试覆盖率,裸芯片的筛选,芯片的老化检验等方面发挥着巨大作用。
深亚微米时代的IDDQ...
- 曹福全
- 关键词：电流比归一化
- 文献传递
- 裸芯片的IDDQ测试筛选方法研究
- 2007年
- IDDQ测试在裸芯片的测试筛选中非常有用,为了获得更高质量与可靠性的产品,许多公司在CMOS生产线中引入了IDDQ测试筛选技术,现在IDDQ测试筛选技术已经作为保证芯片可靠性的重要手段。本文介绍了IDDQ测试筛选技术的重要概念以及其在保证裸芯片可靠性方面的重要作用,并对深亚微米器件中的IDDQ测试筛选方法做了重点介绍。
- 刘林春
- 关键词：裸芯片
- IDDQ测试,挑战与发展
- 本文介绍了IDDQ测试技术的检测能力极其在深亚微米阶段所遇到的挑战和一些解决办法.还讨论了IDDQ作为老化筛选有效补充的现实意义.
- 钟征宇
- 关键词：测试技术
- 文献传递
- IDDQ测试原理及测试优势
- 1999年
- 本文介绍了 IDDQ测试的基本原理 ,探讨了 IDDQ测试方法在对静态 CMOS电路测试时的重要特征 ,展示了
- 张新林
相关作者
- 冯建华
- 作品数：151被引量：767H指数：13
- 供职机构：清华大学信息科学技术学院计算机科学与技术系
- 研究主题：XML 木马 数据库 内建自测试 电路
- 朱恒静
- 作品数：9被引量：3H指数：1
- 供职机构：中国航天科技集团公司五院511所
- 研究主题：IDDQ测试 CPU 控制器 接口电路 RAM
- 孙义和
- 作品数：113被引量：162H指数：6
- 供职机构：清华大学
- 研究主题：集成电路 集成电路测试 超长指令字 片上系统 开关电容
- 张浩
- 作品数：1被引量：1H指数：1
- 供职机构：沈阳市光明电工仪器厂
- 研究主题：IDDQ测试 DDQ CMOS集成电路 可靠性 I
- 张廷庆
- 作品数：32被引量：55H指数：4
- 供职机构：西安电子科技大学
- 研究主题：离子注入 BF MOS器件 多晶硅栅 锑化铟
