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云南省自然科学基金(2004A00229M)
作品数:
1
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相关作者:
谢雪冰
杨卫国
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谭勇文
徐天伟
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聚焦离子束研磨Au-Ti-GaAs薄膜引起损伤的研究
被引量:1
2008年
通过分析纳米孔的透射电子显微镜(TEM)截面图像和蒙特卡罗理论模拟,研究了聚焦离子束(FIB)研磨Au-Ti-GaAs薄膜的基本性能。应用蒙特卡罗方法模拟FIB研磨三层薄膜的损伤深度与离子能量大小的关系,由于材料不同的阻止本领和晶体结构等因素对损伤深度的影响,随着离子能量的增大,损伤深度并非线性增加。同时,溅射物质的重沉积也影响着纳米孔的形貌,对此也作了系统的分析和探讨。
谭勇文
徐天伟
谢雪冰
杨卫国
杨海
关键词:
聚焦离子束
蒙特卡罗方法
光电子器件
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