中国科学院知识创新工程重要方向项目(GY2011053005)
- 作品数:3 被引量:2H指数:1
- 相关作者:付绍军刘颖邱克强饶欢乐洪义麟更多>>
- 相关机构:中国科学技术大学中国工程物理研究院杭州电子科技大学更多>>
- 发文基金:中国科学院知识创新工程重要方向项目国家自然科学基金国家科技重大专项更多>>
- 相关领域:电子电信理学机械工程自动化与计算机技术更多>>
- 氧化铈抛光改善光束采样光栅衍射效率均匀性
- 2013年
- 作为强激光系统的终端组件之一,光束采样光栅是制作在熔石英基底上的浅槽光栅。利用熔石英的传统化学机械抛光技术,修正熔石英光束采样光栅的槽型轮廓,降低局部偏高的衍射效率,以提高光束采样光栅的整体效率均匀性。利用此方法已成功将430mm×430mm的光束采样光栅的衍射效率均方根值(RMS)由30%附近降低到5%以下。实验结果显示,利用传统化学机械抛光技术可以有效提高光束采样光栅衍射效率均匀性,这是一种可行的技术方案。
- 饶欢乐刘正坤刘颖蒋晓龙邱克强徐向东洪义麟付绍军
- 关键词:衍射效率均匀性化学机械抛光
- 基于俯视SEM图像的矩形光栅占宽比检测方法
- 2014年
- 提出了一种利用俯视SEM图像检测矩形光栅占宽比的新方法。对目标检测图像进行灰度轮廓预处理,接着进行基于动态规划和最小二乘样条逼近的边缘检测,最后按照设定的量化评价标准,计算出目标区域内的光栅占宽比的平均值和标准偏差。使用该方法不仅可以快速准确地计算出目标区域内的光栅占宽比和量化评价占宽比空间分布均匀性,也避免了具有破坏性的制样过程,弥补了传统断面测量方法的不足。编写了用于矩形光栅占宽比检测的图像处理软件GradUI。使用此软件对一组1 200线/mm矩形光栅的俯视SEM图像进行检测分析,发现平均占宽比与灰度轮廓估算值的均方根偏差为0.017 3。结果表明,基于俯视SEM图像的矩形光栅占宽比检测方法是有效可行的,同时,也验证了软件的可靠性。
- 吴丽翔刘颖饶欢乐邱克强付绍军
- 关键词:动态规划
- 大尺寸熔石英采样光栅性能提升
- 采样光栅是强激光系统的关键终端光学组件之一。为了对三倍频激光实现离轴聚焦功能,熔石英采样光栅设计为离轴波带片结构,其实质是条纹弯曲的变间距光栅。目前,430mm口径的采样光栅采用全息光刻.离子束刻蚀方法制作,提高其采样效...
- 刘颖刘正坤邱克强陈火耀饶欢乐蒋晓龙徐向东洪义麟付绍军
- 关键词:熔石英光栅抛光
- 文献传递
- 大尺寸熔石英采样光栅的研究进展被引量:2
- 2016年
- 综述了近五年来为神光装置研制大口径熔石英采样光栅所取得的主要进展。提出了大尺寸采样光栅的化学机械抛光技术,将全息光刻-离子束刻蚀的430mm口径采样光栅的采样效率均匀性控制在均方根值低于5%,满足了采样光栅的设计要求。针对采样光栅的阈值特性,利用二次离子质谱技术,定量表征了采样光栅制备过程中引入的污染及其清洗效果,优化、发展了采样光栅的清洗方法。探索了基于氢氟酸和感应耦合等离子体刻蚀的熔石英基底处理技术,结合干湿法处理技术来去除熔石英光栅基底的亚表面损伤。为进一步提升采样光栅抗激光辐射损伤特性,提出将发展大尺寸熔石英采样光栅的氢氟酸处理方法及具有亚波长减反光栅结构的采样光栅的制备方法。
- 刘颖刘正坤邱克强饶欢乐蒋晓龙陈火耀徐向东洪义麟付绍军
- 关键词:熔石英采样效率激光损伤阈值刻蚀