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博士科研启动基金(20122036)
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Mo衬底厚度对Ni-Mn-Ga形状记忆合金薄膜形貌及磁性能的影响
2013年
采用射频磁控溅射法制备不同厚度Mo衬底的Ni-Mn-Ga薄膜,采用扫描电子显微镜(FE-SEM)、原子力显微镜(AFM)、磁力显微镜(MFM)、振动样品磁强计(VSM)以及X射线衍射仪(XRD)对其形貌及磁性能进行观测和分析。实验发现,制备的Mo衬底Ni-Mn-Ga薄膜经退火后为T型马氏体结构,且当Mo衬底厚度在0-200nm范围内变化时,其饱和磁化强度及居里温度呈现先减小后增大的趋势。当Mo衬底厚度约为100nnl时饱和磁化强度和居里温度具有最低值。薄膜表面颗粒直径随着Mo厚度的增大而减小,但在Mo厚为100nm时出现增大。
熊杰
张敏刚
柴跃生
陈峰华
张海杰
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表面形貌
磁性能
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