您的位置: 专家智库 > >

国家自然科学基金(69876007)

作品数:4 被引量:17H指数:2
相关作者:竺士炀黄宜平李爱珍王瑾吴东平更多>>
相关机构:复旦大学浙江大学更多>>
发文基金:国家自然科学基金上海市科学技术发展基金更多>>
相关领域:电子电信自动化与计算机技术更多>>

文献类型

  • 4篇中文期刊文章

领域

  • 3篇电子电信
  • 1篇自动化与计算...

主题

  • 3篇SOI
  • 1篇多孔硅
  • 1篇压力传感器
  • 1篇力传感器
  • 1篇模拟器
  • 1篇硅外延
  • 1篇感器
  • 1篇高温压力传感...
  • 1篇POROUS...
  • 1篇SOIMOS...
  • 1篇SPLITT...
  • 1篇UHV/CV...
  • 1篇EPITAX...
  • 1篇MOSFET
  • 1篇传感
  • 1篇传感器
  • 1篇THIN
  • 1篇EPITAX...

机构

  • 4篇复旦大学
  • 1篇浙江大学

作者

  • 4篇黄宜平
  • 4篇竺士炀
  • 3篇李爱珍
  • 2篇王瑾
  • 2篇吴东平
  • 1篇鲍敏杭
  • 1篇包宗明
  • 1篇黄靖云
  • 1篇叶志镇
  • 1篇沈绍群

传媒

  • 3篇Journa...
  • 1篇固体电子学研...

年份

  • 2篇2001
  • 1篇2000
  • 1篇1999
4 条 记 录,以下是 1-4
排序方式:
SOIMOSFET二维数值模拟器的设计
1999年
介绍了SOIMOSFET 二维数值模拟器的设计过程。耦合和非耦合相结合的迭代方法提高了收敛稳定性和计算效率。考虑了两种载流子的连续性方程及产生复合作用,精度较高。给出了利用该设计方法获得的SOIMOSFET二维体电势分布以及载流子浓度分布的三维输出图形。
吴东平黄宜平竺士炀
关键词:SOIMOSFET
智能剥离SOI高温压力传感器被引量:11
2001年
采用改进的 RCA清洗工艺提高了硅片的低温键合质量 ,提出了一种积聚式缓慢退火剥离方法用于制备智能剥离 SOI (Silicon On Insulator)材料 ,并用该材料成功地研制了双岛 -梁 -膜结构的 SOI高温压力传感器 .对 SOI压力传感器的测量结果表明 ,当温度增加到 15 0℃左右时 ,输出电压没有明显的变化 ,其工作温度高于一般的体硅压力传感器 (其工作温度一般在 12 0℃以下 ) .测得所制备 SOI压力传感器的灵敏度为 6 3m V/ (MPa· 5 V) ,比用相同版图设计和工艺参数制备的多晶硅压力传感器高约
黄宜平竺士炀李爱珍鲍敏杭沈绍群王瑾吴东平
关键词:SOI压力传感器
双层多孔硅结构上的UHV/CVD硅外延被引量:6
2000年
报道了采用超高真空化学气相淀积 ( UHV/CVD)在多孔硅层上的单晶硅外延技术 .研究了两步阳极化法形成不同多孔度的双层多孔硅层及外延前对多孔硅进行长时间的低温真空预处理等工艺 .对获得的外延层作了 XRD、XTEM和扩展电阻等测量 ,测量结果表明硅外延层单晶性好 ,并和硅衬底、多孔硅层具有相同的晶向 .硅外延层为 P型 ,电阻率大于 1 0 0 Ω·cm.
王瑾黄靖云黄宜平李爱珍包宗明竺士炀叶志镇
关键词:多孔硅硅外延
Transfer of Thin Epitaxial Silicon Films by Wafer Bonding and Splitting of Double Layered Porous Silicon for SOI Fabrication
2001年
A double layered porous silicon with different porosity is formed on a heavy doped p type Si(111) substrate by changing current density during the anodizing.Then a high quality epitaxial mono crystalline silicon film is grown on the porous silicon using an ultra high vacuum electron beam evaporator.This wafer is bonded with other silicon wafer with a thermal oxide layer at room temperature.The bonded pairs are split along the porous silicon layer during subsequent thermal annealing.Thus the epitaxial Si film is transferred to the oxidized wafer to form a silicon on insulator structure.SEM,XTEM,spreading resistance probe and Hall measurement show that the SOI structure has good structural and electrical quality.
竺士炀李爱珍黄宜平
关键词:SOI
共1页<1>
聚类工具0