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上海市青年科技启明星计划(06QB14047)

作品数:7 被引量:24H指数:3
相关作者:王向朝曾爱军黄惠杰何国田胡建明更多>>
相关机构:中国科学院上海光学精密机械研究所上海恒益光学精密机械有限公司中国科学院研究生院更多>>
发文基金:上海市青年科技启明星计划国家自然科学基金上海市科委国际合作基金更多>>
相关领域:理学机械工程电子电信自动化与计算机技术更多>>

文献类型

  • 7篇中文期刊文章

领域

  • 5篇机械工程
  • 5篇理学
  • 2篇电子电信
  • 1篇自动化与计算...

主题

  • 2篇调制
  • 2篇图像
  • 2篇偏振
  • 2篇相位调制
  • 2篇光学
  • 2篇感器
  • 2篇波片
  • 2篇传感
  • 2篇传感器
  • 2篇SIMULT...
  • 1篇调制技术
  • 1篇调制器
  • 1篇正弦相位调制
  • 1篇数字图像
  • 1篇数字图像处理
  • 1篇搜索
  • 1篇条纹
  • 1篇条纹分析
  • 1篇图像处理
  • 1篇图像传感器

机构

  • 5篇中国科学院上...
  • 3篇上海恒益光学...
  • 2篇中国科学院研...

作者

  • 4篇王向朝
  • 2篇曾爱军
  • 2篇黄惠杰
  • 1篇王华
  • 1篇郭小娴
  • 1篇杨坤
  • 1篇何国田
  • 1篇江晓军
  • 1篇胡建明

传媒

  • 3篇中国激光
  • 2篇Chines...
  • 1篇光学学报
  • 1篇光子学报

年份

  • 1篇2009
  • 3篇2008
  • 2篇2007
  • 1篇2006
7 条 记 录,以下是 1-7
排序方式:
Real-time measurement of the fast axis angle of a quarter-wave plate based on simultaneous phase shifting technique
2008年
Real-time measurement of the fast axis angle of a quarter-wave plate based on simultaneous phase shifting technique is presented. The simultaneous phase shifting function is realized by an orthogonal grating, a diaphragm, an analyzer array, and a 4-quadrant detector. The intensities of the light beams from the four analyzers with different azimuths are measured simultaneously. The fast axis angle of the quarter-wave plate is obtained through the four light intensity values. In this method, rotating elements are not required, so real-time measurement is achieved.
杨坤曾爱军王向朝王华唐锋
Method for rapid measuring retardation of a quarter-wave plate based on simultaneous phase shifting technique被引量:3
2008年
A method for rapid measuring retardation of a quarter-wave plate based on simultaneous phase shifting technique is presented. The simultaneous phase shifting function is realized by an orthogonal grating, a diaphragm, an analyzer array, and a 4-quadrant detector. The intensities of the light beams from the four analyzers with different azimuths are measured simultaneously. The retardation of the quarter-wave plate is obtained through the four light intensity values. In this method, the major axis position of the quarter-wave plate need not intensity fluctuation of light be determined in advance source. The feasibility of the In addition, the measured result is free of the method is verified by the experiments.
杨坤曾爱军王向朝唐锋王华
关键词:LIGHTING
物体表面形貌的正弦相位调制实时干涉测量技术研究被引量:7
2007年
表面形貌干涉测量技术是一种高精度的非接触式测量技术,在工业生产和科学研究中具有广泛的应用。提出一种实时测量表面形貌的正弦相位调制干涉测量新技术。该技术用激光二极管作光源,用自制的高速图像传感器探测干涉信号,通过信号处理电路实时解相得到被测表面所对应的相位分布,实时分析相位获得物体表面形貌。该技术消除了光强和部分外界干扰的影响,提高了系统的测量精度。楔形光学平板表面形貌的测量结果表明,测量点为60×60个的情况下,测量时间小于8.2 ms,重复测量精度(RMS)为4.3 nm。
何国田王向朝曾爱军
关键词:光学测量表面形貌激光二极管图像传感器
一种区域搜索获取平面光学元件光圈数的方法被引量:3
2008年
提出一种获取平面光学元件光圈数的方法。通过确定一幅干涉条纹图像中三块测试区域及相应的搜索区域,寻找条纹弯曲量的平均值和相应条纹间距的平均值,根据测试区域对应的权重系数,得到被测平面光学元件光圈数的最佳估计值。通过测量标准光圈并比较目视判读结果,得到最大相对误差为5%。实验结果表明,该方法提高了处理干涉条纹图像的适应性,并可替代人工目视判读干涉条纹图像。
江晓军黄惠杰王向朝曾爱军
关键词:光学检测数字图像处理条纹分析加权平均
基于基频分量消光的1/4波片快轴标定方法被引量:5
2007年
提出了一种基于基频分量消光的波片快轴标定方法,并利用琼斯矩阵对其标定原理进行了分析.激光器、起偏器、相位调制器、待标定1/4波片、检偏器和光电探测器构成标定光路,起偏器、检偏器的透光轴与相位调制器的振动轴分别成+45°和0°夹角.准直激光束依次经过起偏器、相位调制器、待标定1/4波片和检偏器,由光电探测器接收.理论分析表明该标定方法标定精度主要取决于检偏器的定位误差.实验验证了该标定方法的有效性,1/4波片快轴标定结果的最大偏差为0.043°,标准差为0.012°,标定精度为0.05°.
杨坤曾爱军王向朝王华
关键词:偏振1/4波片相位调制器琼斯矩阵
分束量可调的等光程平行分束技术
2009年
基于厚波片平行分束特性,提出了一种分束量可调的等光程平行分束技术,给出透射式和反射式两种平行分束光路.透射式平行分束光路由厚波片和1/2波片组成,反射式平行分束光路由分束镜、厚波片、1/4波片和反射镜组成.通过旋转厚波片可实现分束量的调节.实验结果和理论值相吻合,验证了该技术的有效性.
郭小娴曾爱军黄惠杰
光栅成像位置传感器中的偏振调制技术被引量:6
2006年
提出了一种用于光栅成像位置传感器的偏振调制技术,利用米勒矩阵对其调制原理进行了详细的分析。该偏振调制器主要由起偏器、萨伐尔板、两块1/4波片、光弹调制器和检偏器构成。起偏器、萨伐尔板置于探测光栅之前,在探测光栅位置上形成两个错位的偏振方向正交的像光栅。两块1/4波片、光弹调制器和检偏器置于探测光栅之后,实现对莫尔信号的高频调制。该偏振调制技术消除了光源光强波动和电路增益变化引入的测量误差,抑制了杂散光、探测器噪声对测量结果的影响。实验验证了该偏振调制技术的有效性,结果表明这一技术使光栅成像位移传感器获得了优于12 nm的重复测量精度。
胡建明曾爱军王向朝
关键词:偏振位置传感器光栅调制
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