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江苏省高技术研究计划项目(BG2001015)

作品数：2 被引量：1H指数：1
相关作者：杨军凌明吴光林李锐时龙兴更多>>
相关机构：东南大学更多>>
发文基金：国家自然科学基金江苏省高技术研究计划项目更多>>
相关领域：电子电信更多>>

文献类型

  • 2篇中文期刊文章

领域

  • 2篇电子电信

主题

  • 2篇扫描测试
  • 2篇可测性
  • 2篇可测性设计
  • 1篇电路
  • 1篇数据流
  • 1篇图划分
  • 1篇系统芯片
  • 1篇芯片
  • 1篇基于数据
  • 1篇基于数据流
  • 1篇集成电路

机构

  • 2篇东南大学

作者

  • 2篇李锐
  • 2篇吴光林
  • 2篇凌明
  • 2篇杨军
  • 1篇时龙兴

传媒

  • 1篇应用科学学报
  • 1篇电路与系统学...

年份

  • 1篇2006
  • 1篇2004
共 2 条 记 录，以下是 1-2
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排序方式：
基于测试操作划分的低峰值功耗扫描测试被引量：1
2004年
提出了对同一时钟域中寄存器的测试操作进行划分的方法来降低测试峰值功耗,并且这种划分不需要重新生成测试向量,支持划分前生成测试向量的复用.实验表明,在稍微增加测试时间的条件下,所提出的测试方法能同时降低电路的峰值功耗、平均功耗和能耗.
李锐杨军吴光林凌明时龙兴
关键词：可测性设计系统芯片集成电路扫描测试
基于数据流图划分的低峰值功耗扫描测试
2006年
扫描测试作为数字集成电路设计中最常用的可测性设计方法,能显著提高电路的可测性,但同时也会引起测试功耗问题。本文采用划分待测电路数据流图的方法降低测试峰值功耗。实验表明,在稍微降低故障覆盖率的条件下,本文提出的测试方法能显著降低测试的峰值功耗,同时也能降低平均功耗和能耗。
李锐杨军吴光林凌明
关键词：可测性设计
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共1页<1>
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