爱德万测试有限公司
- 作品数：214 被引量：19H指数：2
- 相关作者：刘旸朱海平李金铁葛樑刘恕更多>>
- 相关机构：清华大学北京大学展讯通信(上海)有限公司更多>>
- 相关领域：自动化与计算机技术电子电信文化科学电气工程更多>>
- T2000 SiP测试方案介绍被引量：1
- 2010年
- 随着SiP系统集成封装越来越广泛的应用,SiP在ATE上的测试面临诸多挑战。通过各种Module的灵活搭配,ADVANTEST T2000测试系统可以提供针对SiP芯片级封装的各个die/chip的功能特性测试,在一个测试平台上完成整个测试的解决方案。并且T2000架构凭借灵活的开放式框架,丰富的测试资源,高效的并行测试构架,人性化的操作界面,以及先进的测试理念为SiP测试提供了更好的低成本解决方案。
- 过海夏
- 关键词：SIPT2000
- FPGA块具有混合协议引擎的测试器
- 提出了能够对半导体器件执行高速测试的自动测试设备。该自动测试设备包括用于控制测试程序的系统控制器，其中该系统控制器被耦合至总线。测试器系统还包括也被耦合至总线的多个模块，其中每个模块可操作来测试多个DUT。每个模块包括耦...
- 约翰·费迪尼安德鲁·尼米克
- 着眼未来的 LCD 驱动芯片测试技术
- 2005年
- 概要:近年来,随着彩屏手机、PDA和家用液晶显示器的推广,国内各大半导体设计公司和生产厂商都开始着眼于LCD相关IC的设计和生产。从测试的角度来讲,高速发展的LCD驱动芯片对其所需要的测试环境也在不断提出更高的要求,着重介绍怎样针对LCD驱动芯片的发展趋势提供评价和量产所需要的测试平台。
- 宗伟
- 关键词：TFTDRIVER
- 灵活的测试系统和方法
- 本文涉及灵活的测试系统和方法。所提出的实施例有助于高效且有效地在测试系统中灵活实现不同类型的测试程序。在一个实施例中，一种测试系统包括资格预审测试组件、功能测试组件、控制器、收发器和开关。资格预审测试组件被配置为对被测器...
- 迈克尔·鲍蒂斯塔
- 电源、自动化测试设备、用于操作电源的方法、用于操作自动化测试设备的方法和使用电压变动补偿机制的计算机程序
- 一种电源被配置为利用响应于预期负载变化而触发的电压变动补偿机制对由负载变化引起的电压变动执行至少部分补偿。一种用于测试被测器件的自动化测试设备包括电源，该电源被配置为供给该被测器件。自动化测试设备包括被配置为为被测器件提...
- 弗朗茨·罗特纳马丁·费舍尔阿洛伊斯·泰尔迈尔鲁迪·鲍尔
- 文献传递
- MCP存储器从设计到大规模量产测试的完善解决方案
- 2005年
- 当前,集成电路的生产趋向不仅单位面积的集成度一再提高,器件封装更向空间发展。主要的存储器生产厂都将采用多芯片封装(MCP)形式作为未来存储器件封装的重点发展方向之一。本文着重阐述针对越来越大的多芯片封装存储器大规模量产测试需要,作为占据测试领域领先地位的爱德万测试ADVANTEST所提供的,涵盖从设计端到最终成品测试整个产品链的业界最尖端的完整解决方案。
- 宋子凯
- 关键词：量产产品链存储器件
- T2000面向不同测试需求的灵活对应被引量：2
- 2010年
- 随着半导体集成电路产业的迅猛发展,IC的集成度越来越高,这就使得IC的功能越来越复杂。因此对于半导体集成电路测试设备在灵活配置性、可升级性以及低成本性方面的要求也越来越高。Advantest的T2000作为新一代的半导体测试系统,针对不同的测试需求均有灵活的对应方式。
- 张可王春宇
- 关键词：T2000
- 测试系统和方法
- 本公开涉及测试系统和方法。提出的实施例便于有效和高效地接入被测设备。在一个实施例中，测试系统包括：设备接口板(DIB)，该DIB被配置为与被测设备(DUT)接口连接；以及基元，该基元被配置为控制设备接口板和对被测设备的测...
- 梅-梅·苏本·罗杰尔-法维拉
- 文献传递
- 一种使用电桥电路测试集成电路内部电容的方法
- 本发明为一种使用电桥电路测试集成电路内部电容的方法。具体是在测试通道输入输出之间接入一个电桥电路，先在电桥输入端给予一个信号，电桥一端空载，利用电桥的平衡确定电桥的初始状态；然后通过测试两个事先知道容值的高精度电容拟合出...
- 浜岛明刘旸
- 文献传递
- 用于半导体测试的自动测试设备的多波导结构
- 本文涉及用于半导体测试的自动测试设备的多波导结构。本公开的实施例使用可定制波导，其可以在包含一个单个法兰以为波导提供物理连接的结构中彼此相邻地放置。以这种方式，许多波导可以位于小区域内以容纳紧密封装的贴片天线阵列，使得波...
- 唐·李林伟良罗杰·麦克阿莲那宫尾光介
