李正光
- 作品数：8 被引量：23H指数：3
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- 相关领域：电子电信自动化与计算机技术更多>>
- 混合信号边界扫描测试系统的设计与实现
- 2003年
- 分析了混合信号边界扫描测试的工作机制对测试系统的功能需求,实现了符合IEEE1149.4标准的混合信号边界扫描测试系统。仿真和测试实践表明,该测试系统具有对系统级、PCB级和芯片级电路进行简单互连测试、差分测试和参数测试等功能,结构简单、携带方便、工作可靠。
- 李正光雷加
- 关键词：混合信号测试系统混合信号电路
- 混合信号总线测试
- 2005年
- 文中介绍了使用本研究室开发的混合信号边界扫描测试系统对KLIC实验芯片进行简单互连、扩展互连测试和CLUSTER测试。通过对测试结果的分析表明，IEEE1149．4测试总线在这些测试中是非常成功的，并同时指出了其局限性。
- 李正光雷加
- 混合信号总线测试实例
- 2003年
- 混合信号电路(Mixed-signalCircuits)广泛应用于通信、多媒体、工业电子和消费类电子产品中。其测试方法有很多,其中基于边界扫描技术的混合信号测试总线已越来越受欢迎。在定义混合信号测试总线时,要求不仅能够测试桥接故障、开路故障、对模拟元件值进行测试,而且还要能够与IEEE1149.1兼容。为此,IEEE半导体工业协会(SA)标准委员会于1999年6月批准了建立混合信号测试总线标准的1149.4文件。
- 雷加李正光
- 基于IEEE1149.4的测试方法研究被引量：9
- 2003年
- 根据混合信号边界扫描测试的工作机制 ,提出了符合 1149.4标准的测试方法 。
- 李正光雷加
- 关键词：混合信号参数测试
- 混合信号总线测试实验
- 2003年
- 使用本院CAT研究室开发的混合信号边界扫描测试系统对KLIC实验芯片进行简单互连、扩展互连测试和CLUSTER测试。通过对测试结果的分析表明,IEEE1149.4测试总线在这些测试中是非常成功的,同时指出其局限性。
- 李正光雷加
- 关键词：混合信号电路测试总线测试实验
- 数字IC可测性设计及其EDA流程被引量：7
- 2004年
- 介绍了数字IC可测性设计 (DFT)的概念和方法及其在电子设计自动化 (EDA)环境中的实现流程。DFT实质上就是在设计时更改或添加设计结构和模块 ,使之能够满足测试的需要。它的目标包括 :所设计的电路和系统易于测试 ;由此设计所引起的附加硬件应尽可能少 ;电路的附加部分对原来电路的性能影响应尽可能少 ;设计方法的适应面要广。着重介绍了内建自测试DFT、内扫描DFT、边界扫描DFT、IEEEP15 0
- 李正光雷加
- 关键词：可测性设计电子设计自动化集成电路
- 基于FOUNDATION环境下并行接口电路设计与仿真
- 2003年
- 提出了Foundation集成环境下使用VHDL硬件描述语言设计并行接口电路的方法,以实现数据高速双向传输,并节省硬件开销。给出了接口电路的VHDL示例程序与仿真波形。
- 李正光
- 关键词：仿真接口控制器FOUNDATION
- IEEE1149.4测试系统的研究与设计被引量：8
- 2004年
- 分析了符合IEEE1149.4标准IC的工作机制及其对测试系统的功能需求,设计了符合IEEE1149.4标准的测试系统,重点论述了IEEE1149.4测试系统的设计方案。测试系统的仿真和运行表明,该系统具有对系统级、PCB级和芯片级电路进行简单互连测试、差分测试和参数测试等功能,设计方案正确,结构简单。
- 李正光雷加
- 关键词：测试系统
