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钟伦燕

作品数:5 被引量:12H指数:2
供职机构:信息产业部电子第五研究所更多>>
相关领域:自动化与计算机技术电子电信经济管理更多>>

文献类型

  • 5篇中文期刊文章

领域

  • 3篇自动化与计算...
  • 1篇经济管理
  • 1篇电子电信

主题

  • 3篇控制图
  • 2篇SPC
  • 1篇电子工业
  • 1篇质量管理
  • 1篇软件工程
  • 1篇生产管理
  • 1篇统计过程
  • 1篇统计过程控制
  • 1篇静电损伤
  • 1篇过程控制
  • 1篇半导体
  • 1篇半导体器件
  • 1篇ISO900...
  • 1篇Q

机构

  • 4篇信息产业部电...
  • 1篇电子部

作者

  • 5篇钟伦燕
  • 1篇彭苏娥
  • 1篇王卫东
  • 1篇刘红
  • 1篇陈伟

传媒

  • 3篇电子质量
  • 2篇电子产品可靠...

年份

  • 1篇2005
  • 1篇2001
  • 1篇2000
  • 2篇1998
5 条 记 录,以下是 1-5
排序方式:
浅谈半导体器件静电损伤及防护措施被引量:2
1998年
本文论述了半导体器件静电损伤及防护措施,阐述了静电放电(ESD)失效的敏感电压、静电放电模型、静电对CMOS电路的损伤、提高器件抗静电损伤的方法、无静电工作环境的建立以及包装、储存、运输时防静电的措施。
钟伦燕
关键词:半导体器件静电损伤
ISO9001:2000与软件工程的协调性
2005年
在日益激烈的竞争环境中,众多企业将实施ISO9001:2000作为提升自身竞争能力的重要手段之一,在这种大环境的影响下,软件企业也开始实施ISO9001:2000。针对软件开发的特点,探讨了软件工程与ISO9001:2000标准有机结合的协调性。
陈伟钟伦燕王卫东
关键词:软件工程质量管理
SPC的典型控制图的应用范围被引量:10
2001年
研究了统计过程控制技术中的常规控制图、通用控制图、小波动控制图、多元控制图、选择控制图及其应用范围。
钟伦燕刘红彭苏娥
关键词:统计过程控制控制图SPC
非3σ控制界限的-R控制图控制界限
1998年
控制图是生产企业判定生产过程是否出现异常的一种工具,在生产实践中,控制图控制界限并非以3σ为最佳,而是根据实际情况选择确定。
钟伦燕
关键词:控制图生产管理电子工业
全文增补中
Q()—Q(S^2)控制图
2000年
本文介绍了Q()-Q(S~2)控制图的统计量、绘制方法及实例。
钟伦燕
关键词:SPC控制图
共1页<1>
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