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刘恕

作品数：3 被引量：0H指数：0
供职机构：爱德万测试有限公司更多>>
相关领域：自动化与计算机技术电子电信更多>>

文献类型

  • 1篇国内会议论文

领域

  • 1篇电子电信

主题

  • 1篇NAND_F...
  • 1篇ATE
  • 1篇ECC
  • 1篇GRADE
  • 1篇MLC

机构

  • 1篇爱德万测试有...

作者

  • 1篇刘恕

年份

  • 1篇2008
共 3 条 记 录，以下是 1-1
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排序方式：
NAND Flash的ECC分级及其在ATE设备中的测试方法
ECC校验技术被越来越多地应用于大容量NAND型FLASH存储器中,本文讨论了在采用了MLC技术的NAND型FLASH中使用ECC校验的必要性、ECC分级方法,以及在ATE设备中进行ECC Grade测试的方法
刘恕
关键词：ECCMLC
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