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宫昌萌

作品数：4 被引量：6H指数：1
供职机构：东南大学更多>>
发文基金：国家自然科学基金江苏省自然科学基金国家重点基础研究发展计划更多>>
相关领域：一般工业技术理学电子电信更多>>

合作作者

文献类型

  • 2篇专利
  • 1篇期刊文章
  • 1篇学位论文

领域

  • 1篇电子电信
  • 1篇一般工业技术
  • 1篇理学

主题

  • 4篇制冷器
  • 3篇制冷
  • 2篇致冷
  • 2篇器件芯片
  • 2篇微型制冷器
  • 2篇芯片
  • 2篇激光
  • 2篇激光器
  • 2篇激光器件
  • 2篇光器件
  • 2篇硅基
  • 2篇硅基底
  • 2篇并联
  • 1篇电子器件
  • 1篇电阻
  • 1篇热电性能
  • 1篇热电制冷
  • 1篇热电制冷器
  • 1篇微电子
  • 1篇微电子器件

机构

  • 4篇东南大学

作者

  • 4篇宫昌萌
  • 3篇陈云飞
  • 2篇胡明雨
  • 2篇杨决宽
  • 2篇陈益芳
  • 1篇陈震
  • 1篇吴洲
  • 1篇常国强
  • 1篇钱瑞明

传媒

  • 1篇Journa...

年份

  • 3篇2006
  • 1篇2005
共 4 条 记 录，以下是 1-4
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排序方式：
并联阵列式微型制冷器及其制备方法
并联阵列式微型制冷器及其制备方法是一种用来提高对激光器件、计算机CPU的温度控制，改善芯片内部的散热，从而提高器件芯片的工作效率，延长使用寿命的技术，其层状结构，其位置排列依次为：P型半导体的硅基底(6)，P型半导体的缓...
陈云飞陈益芳杨决宽宫昌萌胡明雨
文献传递
一种测试半导体制冷器的瞬态方法被引量：5
2006年
ZT值、最大制冷温差和响应时间是表征半导体制冷器性能的重要参数.文中介绍了一种能同时测量这三个参数的瞬态方法,并讨论了热沉对测试结果的影响.利用一个由恒流脉冲发生器和数据采集卡组成的简单测试系统测得制冷器在小电流下的电阻电压和塞贝克电压,通过这两个电压推导出ZT值、最大制冷温差.这种瞬态方法是非接触式测量,准确度高,可用于薄膜热电器件测试;另外瞬态方法耗时短,可大大缩短半导体制冷器可靠性测试的周期.采用这种方法对4mm×4mm×2·4mm的热电制冷器进行实验,环境温度300K时,测得ZT值为0·39,最大温差58·5K,响应时间20s.
宫昌萌陈震吴洲常国强钱瑞明陈云飞
基于超晶格的微型热电制冷器
Intel科学家Packan曾指出：若继续按照Moore定律缩小芯片的尺寸并同时提高其性能，高集成度芯片工作时产生的焦耳热会使芯片很快达到其热力学极限，因此，微电子器件的冷却问题早在80年代中期已成为国际微电子界和国际传...
宫昌萌
关键词：超晶格接触电阻热电制冷器热电性能微电子器件
文献传递
并联阵列式微型制冷器及其制备方法
并联阵列式微型制冷器及其制备方法是一种用来提高对激光器件、计算机CPU的温度控制，改善芯片内部的散热，从而提高器件芯片的工作效率，延长使用寿命的技术，其层状结构，其位置排列依次为：P型半导体的硅基底(6)，P型半导体的缓...
陈云飞陈益芳杨决宽宫昌萌胡明雨
文献传递
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