高春晓
- 作品数：145 被引量：70H指数：5
- 供职机构：吉林大学更多>>
- 发文基金：国家自然科学基金国家重点基础研究发展计划博士科研启动基金更多>>
- 相关领域：理学化学工程电子电信一般工业技术更多>>
- 一种调控BaMnO<Sub>4</Sub>电导率的方法
- 本发明的一种提高BaMnO<Sub>4</Sub>电导率的方法，属于高压调控电导率技术领域，在室温条件下，在金刚石对顶砧中对BaMnO<Sub>4</Sub>样品施加1.2～30.7GPa，进行原位阻抗谱测试，并通过等效...
- 韩永昊刘瑜高春晓
- 直流辉光等离子体化学气相沉积金刚石薄膜的研究
- 高春晓
- 一种金刚石对顶砧内物质电滞回线测量方法
- 本发明的一种金刚石对顶砧内物质电滞回线测量方法属于极端条件下物理量测量的技术领域，包括清洗垫片、焊接漆包导线、预压、放置云母片、重新复位等步骤。本发明解决了用金刚石对顶砧装置测量电滞回线的过程中，样品厚度和样品面积无法准...
- 韩永昊张鑫蒋大伟曹敏张翠婷赵星星高春晓
- 一种金刚石对顶砧内样品厚度测量装置及方法
- 本发明的一种金刚石对顶砧内样品厚度测量装置及方法,属于物理量测量的技术领域。所述的测量装置，主要结构包括：定位激光承台(8)、测角激光A承台(5)、测角激光B承台(2)、测距仪(3)、定位调平激光承台(30)以及定位激光...
- 高春晓蒋大伟曹敏韩永昊岳冬辉冀婷婷刘浩
- 文献传递
- 高压下LiNbO3的电输运性质研究
- 王庆林韩永昊刘才龙李玉强张俊凯吴雷张鑫柯峰高春晓
- 调控BiAlO<Sub>3</Sub>电导率的方法
- 本发明是一种调控BiAlO<Sub>3</Sub>电导率的方法，在室温条件下，在金刚石对顶砧装置中，样品加入至金刚石对顶砧装置中，利用金刚石对顶砧装置对样品腔内部加压力，通过对施加压力的控制BiAlO<Sub>3</Su...
- 韩永昊尚书豪卢博存赵星星张鑫高春晓
- 高温高压装置研制和技术创新的发展现状与趋势
- 2022年
- 现代化的高温高压实验装置与表征技术是研究地球深部物质的赋存状态、属性及效应的关键手段.近20年,国内很多科研单位先后建立了高水平高温高压实验平台,具有覆盖地表至地心温压环境的各类装置以及多种可进行原位/非原位观测的技术,在高压矿物物理、实验岩石学和地球化学等领域取得重要进展.装置和技术的创新发展是当前我国“三深一系统(深地深海深空、地球系统科学)”科技战略领域中基础理论创新的驱动力之一.简要综述了高温高压装置研制、技术发展和面临的主要挑战,在此基础上展望了未来的发展方向.
- 巫翔高春晓王超
- 关键词：地球化学
- 等离子体增强MOCVD法生长ZnO薄膜被引量：8
- 2002年
- 利用等离子体增强MOCVD法生长出 ZnO薄膜，用X射线衍射谱观察到位于 2θ34．56°处（0002）的衍射峰，表明ZnO沿c方向呈柱状生长．通过荧光光谱，观察到来自于激子的高强度的近带边紫外光发射（375um）．紫外发射光强度与深能级复合发射光强度比高达 193，显示出材料的高质量，并通过原子力显微镜加以验证．为了实现高阻ZnO薄膜，利用高温富氧分段退火和用N2 气进行掺氮两种方法生长高阻ZnO薄膜．结果表明，电阻率由0．65 Ω·cm分别升高到1100 Ω·cm（分段退火）和5×104Ω·cm（掺氮）．进一步比较发现，掺氮的样品不仅电阻率高，而且光荧光特性好，显示出更高的薄膜质量．
- 王新强杨树人王金忠李献杰殷景志姜秀英杜国同杨如森高春晓Ong H.C.
- 关键词：等离子体增强MOCVD法ZNO薄膜原子力显微镜半导体薄膜
- 基于集成技术的金刚石对顶砧原位电学量测量
- 2013年
- 金刚石对顶砧是应用最多的高压装置,能够产生超过400GPa的超高压力,借助激光加温,还可以加载6 000K的高温。近20年来,基于金刚石对顶砧的微小测量电路集成技术的突破,带动了高压原位电学量测量技术的发展,使常压下能够测量的电学量大部分都能在金刚石对顶砧中的高压环境下实现。全面回顾了基于集成技术的金刚石对顶砧高压原位电学量测量技术的发展历程,介绍了最新的技术进展。
- 高春晓
- 关键词：金刚石对顶砧
- 纳米引晶法选择性生长金刚石薄膜被引量：5
- 2000年
- 通过传统的光刻工艺和纳米引晶技术 ,在抛光的单晶Si衬底上形成带有超细金刚石纳米粉的引晶图案 ,并利用该图案与抛光Si处金刚石成核密度的巨大差异 ,实现金刚石薄膜的高选择比生长。该方法具有工艺简单、沉积效率高、选择比高、对底无任何损伤等优点。同时 ,这种方法很容易在不同衬底上实现金刚石薄膜的大面积选择性生长。
- 刘洪武高春晓李迅王成新韩永昊邹广田王文魁文超
- 关键词：金刚石薄膜
