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张可

作品数：1 被引量：2H指数：1
供职机构：爱德万测试有限公司更多>>
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合作作者

文献类型

  • 1篇中文期刊文章

领域

  • 1篇电子电信

主题

  • 1篇T2000

机构

  • 1篇爱德万测试有...

作者

  • 1篇张可
  • 1篇王春宇

传媒

  • 1篇中国集成电路

年份

  • 1篇2010
共 1 条 记 录，以下是 1-1
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排序方式：
T2000面向不同测试需求的灵活对应被引量：2
2010年
随着半导体集成电路产业的迅猛发展,IC的集成度越来越高,这就使得IC的功能越来越复杂。因此对于半导体集成电路测试设备在灵活配置性、可升级性以及低成本性方面的要求也越来越高。Advantest的T2000作为新一代的半导体测试系统,针对不同的测试需求均有灵活的对应方式。
张可王春宇
关键词：T2000
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