您的位置: 专家智库 > >

孙东

作品数:3 被引量:1H指数:1
供职机构:第二炮兵工程学院更多>>
相关领域:理学一般工业技术机械工程航空宇航科学技术更多>>

文献类型

  • 3篇中文期刊文章

领域

  • 1篇机械工程
  • 1篇电子电信
  • 1篇航空宇航科学...
  • 1篇一般工业技术
  • 1篇理学

主题

  • 2篇模糊可靠性
  • 1篇垫片
  • 1篇载荷
  • 1篇外载荷
  • 1篇芯片
  • 1篇螺栓
  • 1篇螺栓强度
  • 1篇密封
  • 1篇模糊可靠性分...
  • 1篇法兰
  • 1篇VLSI芯片
  • 1篇测试系统

机构

  • 3篇第二炮兵工程...
  • 2篇第二炮兵装备...

作者

  • 3篇张庆雅
  • 3篇孙东
  • 2篇杨光松
  • 1篇缪栋
  • 1篇任宁莉
  • 1篇张治宇

传媒

  • 2篇弹箭与制导学...
  • 1篇现代电子技术

年份

  • 2篇2006
  • 1篇1998
3 条 记 录,以下是 1-3
排序方式:
理想情况下法兰连接系统的密封模糊可靠性
2006年
现代工业对法兰联接系统的密封可靠性提出了越来越高的要求。文中对理想情况下法兰的密封模糊可靠度进行了较为详细的研究。算例结果表明,文中的分析方法是可行的。
张庆雅杨光松孙东
关键词:垫片
外载荷作用下法兰环和螺栓强度模糊可靠性分析被引量:1
2006年
法兰联结系统使用非常广泛的。将法兰联结系统作为一个整体,在外载作用下法兰联结系统受力与变形分析的基础上,对法兰环和螺栓的强度模糊可靠性进行了研究。算例的计算结果表明,本文的分析方法是有效的。
张庆雅孙东杨光松任宁莉张治宇
关键词:外载荷螺栓模糊可靠性
基于边界扫描技术的VLSI芯片测试系统的设计与实现
1998年
90年代发展起来的边界扫描测试技术的推广应用引起测试设备和测试系统的重大变革,边界扫描测试技术正日益成为超大规模集成电路的主流测试技术。介绍一个基于边界扫描技术的VLSI芯片测试系统的设计思想、体系结构及硬件、软件的实现。
孙东缪栋张庆雅
关键词:测试系统VLSI芯片
共1页<1>
聚类工具0