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张蕊

作品数:12 被引量:20H指数:3
供职机构:清华大学更多>>
发文基金:国家自然科学基金博士研究生创新基金国家重点基础研究发展计划更多>>
相关领域:机械工程一般工业技术电子电信自动化与计算机技术更多>>

文献类型

  • 4篇期刊文章
  • 4篇学位论文
  • 4篇专利

领域

  • 4篇机械工程
  • 2篇一般工业技术
  • 1篇电子电信
  • 1篇自动化与计算...
  • 1篇政治法律

主题

  • 5篇外差
  • 4篇双频
  • 4篇双频激光
  • 4篇透射
  • 4篇透射光
  • 4篇激光
  • 4篇共焦
  • 3篇外差干涉
  • 3篇显微术
  • 3篇共焦显微术
  • 2篇色差
  • 2篇双频激光器
  • 2篇双折射
  • 2篇微电子
  • 2篇微电子技术
  • 2篇相位测量
  • 2篇激光器
  • 2篇共光路
  • 2篇测量范围
  • 2篇测量系统

机构

  • 12篇清华大学
  • 3篇中国计量科学...

作者

  • 12篇张蕊
  • 8篇柳忠尧
  • 8篇殷纯永
  • 7篇林德教
  • 4篇闫聚群
  • 4篇徐毅
  • 2篇孟永钢
  • 2篇许婕
  • 1篇毛文炜
  • 1篇叶孝佑
  • 1篇阎聚群

传媒

  • 2篇中国激光
  • 1篇计量学报
  • 1篇光学学报

年份

  • 1篇2015
  • 3篇2006
  • 3篇2005
  • 3篇2004
  • 1篇2003
  • 1篇2002
12 条 记 录,以下是 1-10
排序方式:
双频共焦台阶高度显微测量装置
本发明属于表面形貌测量技术领域,涉及双频共焦台阶高度显微测量装置,包括横向塞曼激光器,依次放置在该激光器发射端轴线上的分光镜、法拉第盒、1/2波片、透镜、针孔、胶合透镜和偏振分光镜;放置在该偏振分光镜反射光路上的1/4波...
殷纯永林德教柳忠尧张蕊徐毅
文献传递
共光路双频外差共焦显微测量装置
共光路双频外差共焦显微测量装置,属于表面形貌测量技术领域。为了在提高分辨率和量程的同时保证系统有高的稳定性,本发明公开了一种共光路双频外差共焦显微测量装置,包括横向塞曼双频激光器,依次设置在激光器发射端轴线上的分光镜、第...
孟永钢柳忠尧闫聚群张蕊林德教殷纯永
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用于线宽测量的偏振干涉共焦显微测量方法被引量:3
2005年
提出一种融合共焦显微技术和偏振干涉技术的偏振干涉共焦显微测量方法。利用共焦技术进行准确的焦点定位,以获得最佳的测量光斑;同时,利用照射到台阶边缘的不同偏振方向(平行和垂直于台阶边缘)的线偏振光反射后产生的相位变化不同这一特性,进行边缘定位。相位变化是利用外差干涉测相的方法得到的。这一系统完全符合共光路原则,有很强的抗干扰能力。利用该系统对标准线宽样板进行了测量,测量结果与中国计量科学研究院用原子力显微镜测量的结果,以及厂商提供的可溯源到美国NIST光学线宽标准的测量值都符合的很好;还对同一刻线进行了5次重复性测量,其极限偏差为20nm。
柳忠尧闫聚群张蕊林德教殷纯永叶孝佑许婕
关键词:计量学线宽共焦显微术
共光路双频外差共焦显微测量装置
共光路双频外差共焦显微测量装置,属于表面形貌测量技术领域。为了在提高分辨率和量程的同时保证系统有高的稳定性,本发明公开了一种共光路双频外差共焦显微测量装置,包括横向塞曼双频激光器,依次设置在激光器发射端轴线上的分光镜、第...
孟永钢柳忠尧阎聚群张蕊林德教殷纯永
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大台阶高度测量的外差共焦方法被引量:7
2005年
台阶高度是微电子产品的一个重要性能参数.基于双频激光干涉共焦显微系统(DICM)提出了一种微电子掩膜板台阶高度测量的扫描方法,在共焦显微扫描样品表面,当光强达到最大值时,将采样外差干涉的相位作为精确对准的判据.该扫描方法集中融合了外差干涉测量和共焦显微测量的优点,同时实现了高分辨率与较大量程的测量,该系统测量台阶高度的范围取决于Z向位移扫描仪PI Foc的扫描范围,可达数十甚至近百微米.实验结果表明该系统在普通恒温的实验条件下1 h内的漂移不超过5 nm,该系统已经用于20μm高台阶的测量,对准分辨率为0 1 nm,实验结果与台阶高度实际值有很好的一致性.
闫聚群柳忠尧林德教张蕊殷纯永徐毅许婕
关键词:共焦显微术外差干涉相位测量
企业信息化成熟度测评指标体系及其设计方法的设计
张蕊
关键词:评价维度实证调研
中美工程担保相关法律问题的比较研究
张蕊
关键词:工程担保代位权
双频共焦台阶高度显微测量装置
本发明属于表面形貌测量技术领域,涉及双频共焦台阶高度显微测量装置,包括横向塞曼激光器,依次放置在该激光器发射端轴线上的分光镜、法拉第盒、1/2波片、透镜、针孔、胶合透镜和偏振分光镜;放置在该偏振分光镜反射光路上的1/4波...
殷纯永林德教柳忠尧张蕊徐毅
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双频干涉共焦台阶高度测量系统被引量:8
2003年
提出了一种以低频差横向塞曼双频激光器作光源的外差干涉共焦显微测量系统 ,该系统通过共焦显微的光强测量进行粗定位 ,其轴向台阶高度测量范围在 5 μm以上。同时采用相位测量技术 ,实现了对半波长的 36 0 0细分 ,从而使测量分辨率达到 0 1nm。由此同时满足了高测量精度和较大测量范围的要求。实验结果表明系统在没有恒温的普通实验室条件下 1h内的漂移不超过 15nm ,与差动纳米双频干涉仪的比对结果线性系数在 0 9999以上 ,非线性误差约 10nm。
林德教柳忠尧张蕊殷纯永徐毅
关键词:测绘仪器相位测量外差干涉共焦显微术
磁头飞行姿态测量系统的研究
近年来磁盘的面密度迅猛增长,滑行体的飞行高度随之不断降低,因而,飞行高度测量技术变得非常重要而又更加困难。本论文对磁头飞行姿态测量系统进行了研究,提出了三种方案的磁头飞行姿态测量系统。其中,对单焦点磁头飞行姿态测量系统进...
张蕊
关键词:外差干涉
文献传递
共2页<12>
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