宋炳文 作品数:50 被引量:58 H指数:4 供职机构: 昆明物理研究所 更多>> 发文基金: 云南省自然科学基金 国家自然科学基金 更多>> 相关领域: 电子电信 理学 更多>>
晶体生长过程中首先凝固点的实验观察 2000年 由于技术上的原因 ,“首先凝固点”很难观察到。通过在Bridgman法生长HgCdTe晶体过程中进行淬火 ,观察到尺寸较小的“首先凝固区域” ,其固液界面为凹形抛物面。 王跃 李全保 韩庆林 马庆华 宋炳文 介万奇 周尧和关键词:晶体 MOVPE-HgCdTe薄膜掺杂研究的进展 2000年 MOVPE是生长HgCdTe薄膜的主要技术之一 ,它可以灵活地控制掺杂浓度和原位生长高性能的p n异质结和双异质结双波段p n N P的HgCdTe薄膜。文中还简要介绍近年在MOVPE HgCdTe薄膜的掺杂研究中 ,施主掺杂和受主掺杂的研究情况以及取得的最新近展。EI和DMAAs分别是广泛采用的施主和受主掺杂剂。 宋炳文关键词:碲镉汞 掺杂 Hg1-xCdxTe薄模研究进展 本文介绍了昆明物理研究所He1-xCdxTe薄膜材料研究的最新进展,报道了外延薄膜的晶体结构质量、电学参数等.用我所研制的He1-xCdxTe薄膜材料成功地制备出性能较好的焦平面探测器. 姬荣斌 张梅 吴刚 杨玉林 张静蓉 陈建才 马庆华 何景福 宋炳文关键词:红外焦平面 EPD 文献传递 用XPS对CdTe(111)面进行化学特性分析 被引量:4 1994年 用XPS化学位移和定量分析方法,研究了露于室温空气中的CdTe(111)面的化学特征。首次报道了经机械抛光表面上形成的表面化合物为TeO2(Te3d5/2575.8eV,O1s530.1eV)和Cd(OH)2(Cd3d5/24051eV.O1s531.4eV)。并与基体里的CdTe共存;经2%Br-乙醇溶液化学抛光,表面上形成的化合物为CdTeO4(Cd3d5/2405.3eV,Te3d5/25765eV,O1s531.2eV)和TeOx(x<1)(Te3d5/2574~575eV,O1s5281eV),并且XPS谱中没有基体里的CdTe的特征,其中TeOX为Te氧化物的过渡态。结果表明,在相同氧化环境中,表面上形成的化合物强烈依赖表面状况。 刘朝旺 宋炳文关键词:XPS 化学特性 采用竖直炉装置沉积碳或氮化硼薄膜技术 本发明属于一种真空镀膜技术,主要用于在石英容器内壁上沉积光亮、均匀、附着牢固的优质碳或氮化硼膜层,也可以用于其它坩埚类容器内壁上镀制膜层。其主要技术方案是:由竖直炉、管架、真空机组、质量流量控制器,丁烷或硼烷裂解源组成一... 赵增林 万锐敏 岳全龄 王晓薇 张鹏举 胡赞东 姬荣斌 宋炳文 蔡春江文献传递 HgCdTe固态再结晶技术工艺改进 被引量:1 2000年 HgCdTe固态再结晶技术主要包括合成 -淬火 -退火三个过程 ,文中对其中的合成工艺和淬火工艺进行改进 ,获得了较为满意的结果。用这种方法制备的HgCdTe材料单晶大、组份均匀、结构完整、电学参数好 ,并已做出多种高性能红外探测器。 李全葆 王跃 韩庆林 李玉德 宋炳文关键词:碲镉汞 红外材料 有机红外半导体酞菁铒的掺杂及电学性质研究 被引量:1 2008年 对固相合成法制备的有机红外半导体ErPc2进行了碘掺杂,有效地将ErPc2的电阻率降低了约3个数量级.研究了本征和碘掺杂有机红外半导体ErPc2电阻的温度依赖关系,碘的掺杂除显著地降低了ErPc2材料的电阻外,其电阻的温度特性没有本质的变化,本征和碘掺杂ErPc2都表现出指数型的电阻温度依赖关系.碘掺杂有效地降低了载流子的热激活能,使更多的载流子得以参与导电,掺杂后指前因子的减小也为降低材料的电阻率作出了贡献.解释了在高电场强度下本征有机红外半导体ErPc2的指数I-V关系. 唐利斌 姬荣斌 宋立媛 陈雪梅 李永亮 荣百炼 宋炳文关键词:掺杂 电学性质 富碲的碲镉汞相图的理论计算以及同实验结果的比较 杨彦 宋炳文关键词:碲合金 镉合金 汞合金 相图 液相外延生长 液相线 一种新型溶胶-凝胶方法制备ZnO薄膜的椭圆偏振光谱研究 被引量:7 2006年 使用一种新型的溶胶-凝胶方法制备了ZnO薄膜,此方法的特点在于操作简单、无毒、实用。此方法可在非单晶基片(如玻璃、石英等)上制备最大晶粒尺寸大于100 nm的大面积ZnO薄膜。利用椭圆偏振光谱观察到了所制备ZnO薄膜折射率随光子能量的增加在光子能量等于禁带宽度处出现峰值的现象;计算了ZnO薄膜的光学带隙;证明了ZnO薄膜中存在由氧空位和锌间隙原子在带隙中引入的缺陷能级。 唐利斌 郑云 吴刚 姬荣斌 宋炳文 黄晖关键词:ZNO薄膜 溶胶-凝胶 椭圆偏振光谱 MCT单晶中的应变研究 被引量:4 1990年 用X光衍射方法,测量了固态再结晶法生长的MCT单晶生长方向的衍射角2θ,近似计算出单晶生长方向的应变。MCT单晶的组份为x=0.214,生长方向分别为(111)(110)和(100)。初步实验的结果表明,固态再结晶法生长的MCT单晶生长方向的最大应变为10^(-4);其应变与MCT单晶的晶向没有明显的对应关系,而主要与生长工艺有关。 王跃 蔡毅 李全保 宋炳文