张敬民
- 作品数:11 被引量:7H指数:2
- 供职机构:北京大学物理学院人工微结构与介观物理国家重点实验室更多>>
- 发文基金:国家自然科学基金国家重点基础研究发展计划教育部“新世纪优秀人才支持计划”更多>>
- 相关领域:一般工业技术电子电信理学金属学及工艺更多>>
- Sn催化的Ga掺杂ZnO纳米线的制备及其光致发光性能研究被引量:1
- 2011年
- 采用化学气相沉积的方法,以Sn粉为催化剂制备出大长径比的Ga掺杂ZnO纳米线。采用扫描电子显微镜观察制备的产物,发现样品为直径约25~90nm的纳米线。通过比较不同Ga掺杂含量样品的室温光致发光谱,发现一定掺杂含量的Ga可以提高ZnO纳米线的紫外发光强度,同时,Ga的掺杂也会引起ZnO紫外发光峰的蓝移。随着Ga含量的增加,蓝移程度越来越小,甚至发生红移。Sn的引入只对Ga掺杂ZnO纳米线的蓝绿光有贡献。
- 陆映东常永勤张敬民王明文郭佳林王永威龙毅
- 关键词:光致发光化学气相沉积
- 掺杂机制的电子能量损失谱(EELS)研究
- 2006年
- 张敬民章新政尤力平俞大鹏
- 关键词:电子能量损失谱宽禁带半导体P型掺杂过渡金属
- 一种规模化制备超精细纳米结构的方法及其应用
- 本发明公开了一种规模化制备超精细纳米结构的方法与应用。该方法包括:1)将待加工物放入加速电压大于200kV的场发射透射电镜中,将该场发射透射电镜的放大倍数调至100KX,将透射电镜电子束会聚成1-10nm的束斑;2)将束...
- 张敬民俞大鹏
- 文献传递
- 氧化镁等离激元与价电子激发纳米分辨STEM⁃EELS研究
- 2022年
- 本文针对单晶面心立方氧化镁样品在low⁃loss电子能量损失谱中等离激元峰和价电子激发峰重合这一问题,利用高能量分辨和空间分辨扫描透射电镜-电子能量损失谱(STEM⁃EELS)技术探索和研究了通过改变样品厚度和利用动量分辨电子能量损失谱技术用来区分单晶氧化镁电子能量损失谱中等离激元和价电子激发信号的可行性。结果表明,对于氧化镁样品,可以通过测量厚度连续变化的电子能量损失谱以分别研究其等离激元和价电子激发。对于样品较厚的情况,由于两种信号的局域性不同,通过测量动量分辨电子能量损失谱,可以有效区分单晶氧化镁价电子激发和等离激元信号。论文研究结果可能适用于在纳米尺度上测量材料的激子、带隙和等离激元等电子能量损失谱研究。
- 杜进隆赵娜时若晨李跃辉张敬民徐军高鹏
- 关键词:电子能量损失谱等离激元
- 超精细纳米结构加工技术被引量:3
- 2007年
- 利用高能会聚电子束的辐照损伤能力,在300 kV高分辨透射电镜中成功加工出小于5 nm的超精细纳米结构。加工精度在特征尺寸和空间位置上可同时达到一个纳米。加工的纳米结构具有原子尺度的边界,并可以通过高分辨像直接监视纳米结构的形成过程。这种技术可以广泛应用于各种无机材料,尤其适用于无机化合物。结合自动控制,这种技术可以用于加工任意复杂的二维纳米结构。
- 张敬民廖志敏尤力平叶恒强俞大鹏
- 关键词:高分辨透射电镜
- 掺杂机制的电子能量损失谱(EELS)研究
- <正>近年来宽禁带半导体的研究发展十分迅速。P 型掺杂及稀磁掺杂问题都是目前研究的热点。例如:氧化锌(ZnO)的 P 型掺杂,氧化锌、氮化镓的过渡金属元素掺杂等等。虽然实验上取得了一定的进展,但其掺杂机制并不十分清楚。尽...
- 张敬民章新政尤力平俞大鹏
- 文献传递
- 基于球差矫正电镜在原子尺度探究氮化铝在蓝宝石衬底上的生长过程被引量:3
- 2019年
- Ⅲ族氮化物在光电器件方面有着广泛的应用。探究Ⅲ族氮化物的外延生长机制对于制备高质量薄膜材料器件具有重要意义。本文利用球差矫正透射电子显微镜,揭示了金属有机化学气相沉积方法(MOCVD)生长的氮化铝(AlN)在蓝宝石(Al2O3)衬底上的界面原子结构,探究了异质外延的生长机制。分析发现,Al2O3衬底在氨气的氛围下退火后,表面率先被氮化,生成一层AlN。在进一步生长AlN的时候,铝(Al)原子优先填补Al2O3表面高位铝的位置,然后按照AlN的晶格结构生长。此外,该方法生长的AlN在界面附近是非金属(N)极性。这些发现加深了我们对氮化物薄膜的外延生长动力学的认识,为更好地控制界面的成核、极性提供了有用的信息。
- 窦志鹏陈召龙李宁刘秉尧张敬民魏同波刘志强罗强廖蕾高鹏
- 关键词:ALN蓝宝石
- 一种光阴极材料光电子发射性能评测装置及其评测方法
- 本发明公开了一种光阴极材料光电子发射性能评测装置及其评测方法。本发明的评测装置包括:真空腔室、真空抽气系统、真空度测量系统、光阴极组件、电源系统、光电子成像系统、数据采集系统、激光激发系统以及聚焦面镜。本发明通过在真空腔...
- 朱瑞徐军张家森俞大鹏李雪梅张敬民陈莉安辰杰
- 文献传递
- 用高分辨电子能量损失谱方法(HR-EELS)研究铁电薄膜
- 张敬民
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- 用高分辨电子能量损失谱方法(HR-EELS)研究铁电薄膜
- 2005年
- 张敬民
- 关键词:电子能量损失谱铁电薄膜谱方法SI(001)