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王征

作品数：31 被引量：27H指数：2
供职机构：中国空间技术研究院更多>>
相关领域：自动化与计算机技术电气工程一般工业技术航空宇航科学技术更多>>

合作作者

文献类型

  • 20篇专利
  • 10篇期刊文章
  • 1篇标准

领域

  • 9篇自动化与计算...
  • 5篇电气工程
  • 4篇一般工业技术
  • 3篇航空宇航科学...
  • 2篇电子电信
  • 1篇经济管理

主题

  • 5篇电路
  • 4篇图像
  • 4篇气密
  • 4篇气密性
  • 4篇热阻
  • 4篇密封性
  • 4篇密封性检测
  • 4篇集成电路
  • 4篇检漏
  • 4篇检漏仪
  • 3篇宇航
  • 3篇元器件
  • 3篇热阻测试
  • 3篇空间站
  • 3篇航天
  • 3篇二极管
  • 3篇半导体
  • 3篇半导体器件
  • 2篇电磁继电器
  • 2篇电器

机构

  • 31篇中国空间技术...
  • 2篇贵州航天电器...
  • 1篇郑州航天电子...
  • 1篇中国电子科技...
  • 1篇中国振华集团...

作者

  • 31篇王征
  • 18篇唐章东
  • 17篇张红旗
  • 12篇张义
  • 11篇宁永成
  • 9篇贾晓
  • 8篇王贺
  • 6篇张大宇
  • 6篇张松
  • 5篇毛喜平
  • 5篇李璇
  • 5篇蒲瑞民
  • 5篇范壮壮
  • 4篇张海明
  • 4篇杨坤
  • 4篇王雪生
  • 3篇刘敏
  • 2篇朱恒静
  • 2篇孙吉兴
  • 2篇农宁宁

传媒

  • 3篇质量与可靠性
  • 1篇红外与激光工...
  • 1篇光纤与电缆及...
  • 1篇表面技术
  • 1篇电子产品可靠...
  • 1篇机电元件
  • 1篇电子元件与材...
  • 1篇航天器环境工...

年份

  • 5篇2024
  • 2篇2023
  • 5篇2022
  • 2篇2020
  • 5篇2018
  • 3篇2017
  • 2篇2016
  • 5篇2014
  • 2篇2013
共 31 条 记 录，以下是 1-10
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排序方式：
一种元器件缺陷检测的方法及装置
本发明公开了一种元器件缺陷检测方法及装置，所述方法包括：获取目标元器件的X射线图像，并对所述X射线图像进行降噪处理，得到第一图像；消除所述第一图像的非均匀光照背景，得到第二图像；基于模板匹配定位所述第二图像中待检测的目标...
张海明唐章东李璇王征范晓明辛奇王雪生王贺刘敏范壮壮高华兴
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密封性检测装置及方法
本发明提供一种密封性检测装置及方法，所述检测装置包括：示漏气体源，用于向被检件的一侧提供示漏气体；气密室，连接示漏气体源与被检件的所述一侧，并提供两者间的气密性通道；检漏仪，位于被检件的另一侧，用于检测穿过被检件的示漏气...
张红旗唐章东王征孙吉兴贾晓张义毛喜平
文献传递
一种基于深层残差神经网络的AI芯片测评参数确定方法
本发明公开了一种基于深层残差神经网络的AI芯片测评参数确定方法，包括：设计深层残差神经网络FDNet，对该深层残差神经网络FDNet进行训练得到浮点模型，并得到目标分类任务下的测评参数；将浮点模型进行量化得到定点模型，将...
梁培哲祝名李爽张大宇万旺张松王贺焦美荣王征屈若媛杨舒文刘一帆
一种基于数字图像区域增长的X射线缺陷检测方法及系统
本发明公开了一种基于数字图像区域增长的X射线缺陷检测方法，所述方法包括如下步骤：对元器件图像中的外部阴影进行滤波处理得到阴影滤波后的图像；对阴影滤波后的图像采用基于灰度投影积分的边缘检测方法得到阴影滤波后的图像中元器件的...
唐章东李璇张红旗王征曹勇农宁宁段岑林董浩威王雪生李庆张帅刘敏辛奇纪维范壮壮
文献传递
一种检测芯片粘连区域缺陷的方法及装置
本发明公开了一种检测芯片粘连区域缺陷的方法及装置，所述方法包括：对采集到的X射线图像进行预处理，得到第一图像；利用训练好的目标检测模型，定位出所述第一图像中粘连区域的位置；基于无监督图像修复模型对所述第一图像中的粘连区域...
张海明李璇唐章东王征张帅王贺纪维高华兴范壮壮董浩威
文献传递
宇航用微矩形电连接器评估方法被引量：2
2014年
为验证宇航用微矩形电连接器研制的成熟度和在宇航工程中应用的适用度,提出了一种应用验证的新方法。其核心在于以微矩形电连接器鉴定试验为基础,结合宇航应用的实际背景及其自身特性制定评估试验方案,对其耐受力裕度、实际性能指标进行评价。该方法成功应用于宇航用微矩形电连接器的评估,得出了在不同应用条件下其电性能参数的变化趋势以及与进口样品间电参数比对结果,并对其结构与航天型号要求的符合性以及极限性能指标等进行了评估验证,为微矩形电连接器的研制和应用提供参考依据。
唐章东张红旗王征宁永成贾晓张义刘贲
宇航用商业现货（COTS）半导体器件 质量保证要求
本文件规定了宇航用商业现货半导体器件(以下简称COTS器件)的质量保证要求,确立了宇航用COTS器件需求分析、评价试验,破坏性物理分析(DPA)、筛选试验、鉴定试验的具体要求和应用控制要求。本文件适用于宇航用COTS器件...
张大宇汪悦张红旗张海明宁永成王征朱恒静王彤丛山张松王贺
纯硅芯光纤的空间辐照环境适应性被引量：2
2017年
研究了光纤的辐照损伤机理,对纯硅芯光纤与传统芯层掺杂光纤的结构特点进行了系统地分析,从结构组成特点上分析了两者的抗辐照性能差异。研究了国内外关于光纤的抗辐照试验标准,对各标准中剂量率、总剂量等试验条件差异进行了对比,并对不同剂量率对光纤辐照试验结果的影响进行了分析,给出了光纤在空间辐照环境条件下应用的γ辐照试验条件的选择原则。最后,采用0.1 rad(Si)/s剂量率对某国产纯硅芯光纤的抗辐照性能进行了试验评估,光纤在20 k rad(Si)总剂量辐照后光纤损耗为1.934 d B/km。空间辐照性能评估结果满足该项目的宇航型号的空间环境使用需求,辐照评估结论为可用。
贾晓朱恒静张红旗毛喜平王征贾秋阳
关键词：光纤辐照适应性
一种基于典型功耗分析的集成电路保留指令测试电路
本发明涉及一种基于典型功耗分析的集成电路保留指令测试电路，包括计算机、测试机、采样元件、调理电路、功耗采集单元和被测电路；测试机包括：数字通道A、直流源、数字通道B和GND/DGS；功耗采集单元包括2路采集通道：通道A和...
王贺屈若媛张红旗张大宇唐章东王征宁永成张松崔华楠李健焘吉美宁梁培哲
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高可靠固态厚膜熔断器耐脉冲能力研究
2018年
熔断器在经受一定循环次数脉冲电流冲击后会产生寿命疲劳,进而发生产品熔断失效。选取航天器用高可靠固态厚膜熔断器作为典型品种,开展高可靠固态厚膜熔断器的耐脉冲能力研究,将影响熔化热能I^2t值的峰值电流和脉冲冲击时间作为变化因子设计不同的试验条件,对试验结果及数据进行系统、深入地分析,得到了高可靠固态厚膜熔断器在不同脉冲I^2t值下降额使用因子和关系曲线,为后续航天型号任务选用该结构熔断器提供借鉴。
张义彭昌文王征陈德舜张希涛武志新
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