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刘旸

作品数：6 被引量：2H指数：1
供职机构：爱德万测试有限公司更多>>
相关领域：电子电信更多>>

文献类型

  • 5篇专利
  • 1篇期刊文章

领域

  • 1篇电子电信

主题

  • 5篇电路
  • 4篇电容
  • 4篇集成电路
  • 4篇测试电路
  • 3篇电路测试
  • 2篇电桥
  • 2篇电桥电路
  • 2篇电压
  • 2篇端电压
  • 2篇芯片
  • 2篇并联
  • 2篇搭载
  • 1篇信号
  • 1篇信号发射
  • 1篇信号发生
  • 1篇信号发生器
  • 1篇射频
  • 1篇射频信号
  • 1篇数字信号
  • 1篇数字信号发生...

机构

  • 6篇爱德万测试有...

作者

  • 6篇刘旸

传媒

  • 1篇中国集成电路

年份

  • 2篇2006
  • 1篇2005
  • 3篇2004
共 6 条 记 录，以下是 1-6
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排序方式：
高速接口芯片测试技术被引量：2
2006年
李科童刘旸
关键词：接口芯片高速接口测试技术LVDS微电子传输量
一种使用电桥电路测试集成电路内部电容的方法
本发明为一种使用电桥电路测试集成电路内部电容的方法。具体是在测试通道输入输出之间接入一个电桥电路，先在电桥输入端给予一个信号，电桥一端空载，利用电桥的平衡确定电桥的初始状态；然后通过测试两个事先知道容值的高精度电容拟合出...
浜岛明刘旸
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一种使用电桥电路测试集成电路内部电容的方法
本发明为一种使用电桥电路测试集成电路内部电容的方法。具体是在测试通道输入输出之间接入一个电桥电路，先在电桥输入端给予一个信号，电桥一端空载，利用电桥的平衡确定电桥的初始状态；然后通过测试两个事先知道容值的高精度电容拟合出...
浜岛明刘旸
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一种使用CR电路测试集成电路内部电容的方法
本发明为一种利用CR电路测试集成电路内部电容的方法。具体是在测试输入输出端之间搭载一个由电阻R1和电容C0组成的CR电路，分别测试并联待测电容Cx前、后的电压-时间曲线，然后由式Cx＝(Tx-T0)/(R0+R1)计算得...
浜岛明刘旸
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用数字信号和射频信号发射/识别电路测试RFID芯片的方法
本发明为一种用数字信号和射频信号发射/识别电路测试RFID芯片的方法。具体步骤是由测试系统的数字信号发生器产生一数字信号，通过射频信号发射/识别电路产生符合ISO国际标准的射频信号，待芯片收到该信号后，产生一个返回信号，...
浜岛明刘旸
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一种使用CR电路测试集成电路内部电容的方法
本发明为一种利用CR电路测试集成电路内部电容的方法。具体是在测试输入输出端之间搭载一个由电阻R1和电容C0组成的CR电路，分别测试并联待测电容Cx前、后的电压—时间曲线，然后由式Cx＝(Tx－T0)/(R0+R1)计算得...
浜岛明刘旸
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