孔祥巩
- 作品数：11 被引量：35H指数：3
- 供职机构：中国核动力研究设计院更多>>
- 发文基金：核燃料及材料国家级重点实验室开放基金武器装备预研基金更多>>
- 相关领域：金属学及工艺核科学技术文化科学一般工业技术更多>>
- 氢化锆表面氢渗透阻挡层形貌和组织分析
- 2007年
- 用氧化预处理和电镀法在氢化锆表面生成Cr-C镀层,经过400℃、10h预加热得到氢渗透阻挡层并对试样进行加热至700℃、保温10h的氢渗透试验。用XRD对氢渗透阻挡层的组成物进行了分析,用SEM对氢渗透试验后的阻挡层表面和截面进行观察和微区成分分析。分析结果表明,该阻挡层中存在Cr2O3、金属Cr、O和C,阻挡层与基体之间存在一个由baddeleyite结构的ZrO2组成的致密的过渡层;阻挡层基本致密。
- 赵平彭倩孔祥巩邹从沛
- 氢化锆表面CO_2反应层XPS分析被引量：1
- 2006年
- 通过X射线光电子能谱分析了经过700℃加热前后的用CO2反应法制备的氢化锆表面反应层中一定深度(100nm、200nm和300nm)的C、O和Zr的化学态,并用相对灵敏度因子法对X射线光电子能谱分析结果进行了计算分析。结果表明:700℃加热前的膜层中含有C、O和Zr以及C—H键和—OH键;经过700℃加热以后,氢化锆表面氢渗透阻挡层中不仅有C—H键和—OH键,而且还出现了—COOH,与H结合的C、O量增大。
- 赵平彭倩孔祥巩邹从沛
- 关键词：氢渗透
- 氢化法生产锆和锆-2合金粉末的制备工艺
- 本发明公开一种氢化法生产锆和锆-2合金粉末的制备工艺，其特征是将锆(锆-2合金)在5×10<Sup>-3</Sup>Pa、500℃～600℃下保温渗氢2h，生成ZrHx(Zr-2Hx)，将ZrHx(Zr-2Hx)粉在5×...
- 张世恩钱廷儒孔祥巩应诗浩王晓敏陈善华王树安
- 文献传递
- Cr-C-O氢渗透阻挡层的适用条件研究
- 2008年
- 将具有阻挡层的试样封装在具有不同CO2压力的石英管中加热，然后对阻挡层表面进行观察和XPS分析，并用相对灵敏度因子法对X射线光电子能谱分析结果进行了计算分析。结果表明：700℃加热后，在0．03MPaCO2条件下的阻挡层被破破坏；300—500Pa的CO2条件下的阻挡层完好，其中的C-H键和-OH键的量随保温时间的增长和CO2压力的增高而增高；阻挡层能够在300—500Pa的CO2、700℃的封闭小空间中连续工作300小时。
- 赵平彭倩孔祥巩邹从沛
- 氢化锆表面Cr－C－O氢渗透阻挡层制备工艺
- 本发明提供了一种在氢化锆表面制备致密氢渗透阻挡层的工艺，该工艺是将氢化锆块经过磨光和预氧化后，在铬酐镀液中电镀30～180分钟，得到Cr－C合金镀层，经水煮去掉残余镀液后，再次氧化，可在氢化锆表面得到Cr－C－O氢渗透阻...
- 赵平邹从沛孔祥巩彭倩
- 文献传递
- 氢化锆表面Cr－C－O氢渗透阻挡层制备工艺
- 本发明提供了一种在氢化锆表面制备致密氢渗透阻挡层的工艺，该工艺是将氢化锆块经过磨光和预氧化后，在铬酐镀液中电镀30～180分钟，得到Cr-C合金镀层，经水煮去掉残余镀液后，再次氧化，可在氢化锆表面得到Cr-C-O氢渗透阻...
- 赵平邹从沛孔祥巩彭倩
- 文献传递
- 氢化锆表面CO_2反应层结构分析被引量：20
- 2005年
- 利用CO2、P与ZrH2反应生成约3～5μm厚的薄膜,用扫描电镜对薄膜横截面进行形貌观察;用X光电子能谱和X射线衍射对反应层表面进行分析。分析结果证明,所得到的氢化锆表面反应层致密,与基体结合良好,具有阻挡氢的能力;反应层中含有Zr、C、O等元素;除baddeleyite结构的ZrO2以外,还有具有C-H键和O-H键的物质。
- 赵平彭倩孔祥巩邹从沛
- 氢化法生产锆和锆－2合金粉末的制备工艺
- 本发明公开一种氢化法生产锆和锆-2合金粉末的制备工艺，其特征是将锆(锆-2合金)在5×10<Sup>-3</Sup>Pa、500℃～600℃下保温渗氢2h，生成ZrHx(Zr-2Hx)，将ZrHx(Zr-2Hx)粉在5×...
- 张世恩钱廷儒孔祥巩应诗浩王晓敏陈善华王树安
- 文献传递
- 中国脉冲反应堆(PRC-1)
- 夏祥贵王梓生章宗耀孔祥巩田盛戴受惠阮桂兴陆绍机李映发
- 脉冲反应堆是采用铀氢锆特殊核燃料元件的池式研究堆。它既可安全稳态运行，又可安全地脉冲方式支行，即在稳态低功率时(<1kW)瞬时(01.秒)使功率和中子通量密度剧增7个数量级以上(稳态额定功率的3个数量极)，由于特殊燃料元...
- 关键词：
- 关键词：脉冲反应堆研究堆中子活化分析
- 氢化锆表面电镀Cr-C氢渗透阻挡层分析被引量：10
- 2005年
- 用电镀法在氢化锆表面生成致密的Cr-C合金层,经过700℃、144h保温后,基体中氢化锆晶体结构仍然为电镀和加热前的ZrH_(1.801),说明该镀层能够有效地阻挡氢的析出。XPS和SEM分析结果证明,镀层由cr和c组成；其中存在O-H键和可能存在C-H键。这两种键的存在说明,氢被阻挡的原因可能是氢在渗透过程中被镀层中的O和C所捕获。
- 赵平孔祥巩邹从沛
- 关键词：电镀
