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王纯

作品数:1 被引量:2H指数:1
供职机构:天津大学电子信息工程学院电子科学与技术系更多>>
发文基金:国家自然科学基金更多>>
相关领域:电子电信更多>>

文献类型

  • 1篇中文期刊文章

领域

  • 1篇电子电信

主题

  • 1篇电路
  • 1篇集成电路
  • 1篇沟道
  • 1篇硅合金
  • 1篇合金
  • 1篇SOI
  • 1篇
  • 1篇CMOS集成
  • 1篇CMOS集成...
  • 1篇SIGE

机构

  • 1篇清华大学
  • 1篇天津大学

作者

  • 1篇郑元芬
  • 1篇黎晨
  • 1篇陈培毅
  • 1篇郭维廉
  • 1篇郑云光
  • 1篇李树荣
  • 1篇王纯
  • 1篇王静

传媒

  • 1篇固体电子学研...

年份

  • 1篇2003
1 条 记 录,以下是 1-1
排序方式:
SiGe沟道SOI CMOS的设计及模拟被引量:2
2003年
在 SOI(Silicon on Insulator)结构硅膜上面生长一层 Si Ge合金 ,采用类似 SOICMOS工艺制作成具有Si Ge沟道的 SOICMOS集成电路。该电路不仅具有 SOICMOS电路的优点 ,而且因为 Si Ge中的载流子迁移率明显高于 Si中载流子的迁移率 ,所以提高了电路的速度和驱动能力。另外由于两种极性的 SOI MOSFET都采用 Si Ge沟道 ,就避免了只有 SOIPMOSFET采用 Si Ge沟道带来的选择性生长 Si Ge层的麻烦。采用二维工艺模拟得到了器件的结构 ,并以此结构参数进行了器件模拟。模拟结果表明 ,N沟和 P沟两种 MOSFET的驱动电流都有所增加 。
李树荣王纯王静郭维廉郑云光郑元芬陈培毅黎晨
关键词:SIGECMOS集成电路
共1页<1>
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