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裴颂伟

作品数：11 被引量：0H指数：0
供职机构：中国科学院计算技术研究所更多>>
发文基金：国家自然科学基金国家重点基础研究发展计划北京市教育委员会共建项目更多>>
相关领域：自动化与计算机技术电子电信更多>>

合作作者

文献类型

  • 8篇专利
  • 1篇期刊文章
  • 1篇会议论文
  • 1篇科技成果

领域

  • 6篇自动化与计算...
  • 1篇电子电信

主题

  • 7篇时延
  • 7篇时延测试
  • 5篇触发器
  • 4篇扫描链
  • 3篇通路
  • 2篇多路
  • 2篇选择器
  • 2篇硬件开销
  • 2篇生成器
  • 2篇时钟
  • 2篇时钟输入
  • 2篇组合逻辑
  • 2篇相关度
  • 2篇敏化
  • 2篇检测器
  • 2篇函数
  • 2篇函数值
  • 2篇测量电路
  • 2篇超速
  • 1篇电路

机构

  • 11篇中国科学院
  • 1篇中国科学院研...

作者

  • 11篇李华伟
  • 11篇裴颂伟
  • 10篇李晓维
  • 1篇韩银和
  • 1篇付斌章
  • 1篇叶靖
  • 1篇张磊
  • 1篇范东睿
  • 1篇鄢贵海
  • 1篇李佳
  • 1篇沈海华
  • 1篇成元庆
  • 1篇张飞飞

传媒

  • 1篇计算机辅助设...
  • 1篇第十三届全国...

年份

  • 1篇2017
  • 1篇2013
  • 3篇2012
  • 1篇2011
  • 4篇2010
  • 1篇2009
共 11 条 记 录，以下是 1-10
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排序方式：
超速时延测试系统及测试方法
本发明涉及一种超速时延测试系统和方法，系统包括时钟信号选择器和位于被测电路扫描链上的测试时钟生成模块。所述测试时钟生成模块，用于根据在扫描移入阶段扫描移入的控制位生成测试时钟，将所述测试时钟输入所述时钟信号选择器；所述测...
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文献传递
采用部分增强型扫描提高跳变时延故障覆盖率的触发器选择方法
2010年
选择关键的常规扫描触发器进行置换是采用部分增强型扫描时延测试方法的核心问题.通过定义常规扫描触发器和未检测跳变时延故障的相关度的概念及其计算方法,提出一种触发器选择方法.首先找到被测电路中采用捕获加载方法不可测,但采用增强型扫描可测的跳变时延故障;然后依据常规扫描触发器与这些故障的相关度把少量关键的常规扫描触发器替换成为增强型扫描单元,从而有效地提高电路中跳变时延故障被检测的概率.实验结果表明,采用文中方法在可以接受的硬件开销下能有效地提高被测电路中的跳变时延故障覆盖率.
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关键词：时延测试
用于部分增强型扫描时延测试的触发器选择方法及系统
本发明公开了用于部分增强型扫描时延测试的触发器选择方法及系统。该方法包括下列步骤：对电路中利用增强型扫描测试方法得到可测的跳变时延故障集合进行故障精简，得到精简后的故障全集；利用精简后的故障集合，计算电路中所有通用扫描触...
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高性能处理器测试验证与片上容错技术及应用
李晓维李华伟范东睿华更新沈海华韩银和鄢贵海叶靖张磊刘鸿瑾裴颂伟张飞飞付斌章李佳成元庆
该项目属于信息科学领域，测试验证与容错是计算机与集成电路质量检测的共性关键技术。 高性能处理器（CPU）是现代信息系统的核心部件，关系到信息系统稳定可靠运行。中国高性能CPU芯片长期依赖进口，2000年以来，随着中国积极...
关键词：
关键词：高性能处理器微处理器
信号稳定性检测器及时延测试装置
本发明提供了信号稳定性检测器以及采用该信号稳定性检测器的时延测试装置。所述时延测试装置在每一个关键的组合逻辑输出点都设置了一个相应的信号稳定性检测器，用于检测在组合逻辑信号的稳定阶段内每个关键组合逻辑点输出的信号是否发生...
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用于部分增强型扫描时延测试的触发器选择方法及系统
本发明公开了用于部分增强型扫描时延测试的触发器选择方法及系统。该方法包括下列步骤：对电路中利用增强型扫描测试方法得到可测的跳变时延故障集合进行故障精简，得到精简后的故障全集；利用精简后的故障集合，计算电路中所有通用扫描触...
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文献传递
集成电路中的片内时延测量技术
随着工艺技术进入深亚微米时代，现代集成电路中对定时的要求变得越来越严格。时延缺陷对芯片的功能、性能和可靠性带来很大的影响，为了确保芯片的质量，非常有必要检测到它们。片内时延测量技术为芯片时廷的测试和调试提供了一种有效的手...
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关键词：时延测量集成电路
文献传递
超速时延测试系统及测试方法
本发明涉及一种超速时延测试系统和方法，系统包括时钟信号选择器和位于被测电路扫描链上的测试时钟生成模块。所述测试时钟生成模块，用于根据在扫描移入阶段扫描移入的控制位生成测试时钟，将所述测试时钟输入所述时钟信号选择器；所述测...
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一种片上通路时延测量电路及方法
本发明公开了一种片上通路时延测量电路及方法。所述测量电路，包括多级测量单元，并且从最后一级测量单元到第一级测量单元，每级测量单元的测量分辨率以2的倍数递增；每一级测量单元，包括：第一多路选择器、第二多路选择器、第三多路选...
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一种片上通路时延测量电路及方法
本发明公开了一种片上通路时延测量电路及方法。所述测量电路，包括多级测量单元，并且从最后一级测量单元到第一级测量单元，每级测量单元的测量分辨率以2的倍数递增；每一级测量单元，包括：第一多路选择器、第二多路选择器、第三多路选...
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文献传递
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