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吴立强

作品数:11 被引量:6H指数:1
供职机构:中国运载火箭技术研究院更多>>
相关领域:电子电信航空宇航科学技术更多>>

文献类型

  • 6篇期刊文章
  • 5篇专利

领域

  • 5篇电子电信
  • 1篇航空宇航科学...

主题

  • 4篇封装
  • 3篇元器件
  • 3篇封装器件
  • 2篇电容
  • 2篇电容量
  • 2篇电容器
  • 2篇多层瓷介电容...
  • 2篇塑封
  • 2篇退化数据
  • 2篇温度曲线
  • 2篇介电
  • 2篇瓷介电容器
  • 1篇单粒子
  • 1篇单粒子效应
  • 1篇电路
  • 1篇电子元
  • 1篇电子元器件
  • 1篇针眼
  • 1篇阵列
  • 1篇三维模型

机构

  • 11篇中国运载火箭...

作者

  • 11篇吴立强
  • 4篇刘泓
  • 4篇王宇
  • 3篇赵彦飞
  • 2篇张丽
  • 2篇邬文浩
  • 2篇彭磊
  • 2篇林德建
  • 2篇张爱学
  • 2篇孙淑英
  • 2篇汪翔
  • 1篇杨明
  • 1篇朱燕
  • 1篇陈朝杰

传媒

  • 2篇电子技术(上...
  • 1篇半导体光电
  • 1篇电子元件与材...
  • 1篇电子设计工程
  • 1篇导弹与航天运...

年份

  • 1篇2024
  • 1篇2023
  • 1篇2022
  • 3篇2020
  • 2篇2016
  • 1篇2015
  • 1篇2014
  • 1篇2013
11 条 记 录,以下是 1-10
排序方式:
塑封器件除湿方案设计与验证
2023年
声学扫描试验能够有效剔除塑封器件的分层、裂纹、空洞等内部缺陷,提高型号应用的可靠性。声学扫描试验过程中需要使用水作为超声波传播介质,被试塑封器件需要完全浸入到水中,由于塑封器件封装体是非密封的和易吸湿的,所以无法避免湿气的浸入。目前,中国塑封器件声学扫描试验后的除湿方法缺少指导性的技术规范。为研究高温除湿方法并制定规范,通过称重方式研究塑封器件的吸湿特点,并验证在不同高温下除湿的有效性,在大量的试验验证和分析基础上,制定出型号塑封器件可行的除湿技术规范。
吴立强王宇李泱支钰崧胡涵
关键词:塑封器件除湿称重
多层瓷介电容器加速贮存寿命试验方法
本发明涉及元器件可靠性技术领域,具体公开了一种多层瓷介电容器加速贮存寿命试验方法。该方法具体为:1、对多层瓷介电容器在多个高温点下进行贮存试验,获得该电容器电容量退化线性曲线;2、根据退化数据,获得在预设时间内电容量的退...
彭磊刘泓熊盛阳杜红焱孙淑英官岩赵彦飞汪翔吴立强邬文浩张爱学高憬楠林德建
文献传递
针栅阵列型封装器件试验台
针栅阵列型封装器件试验台,试验台整体为立方体结构,其中心水平方向开有正方形水平通孔,其上盖板与下盖板通过螺钉分别安装在试验台上下面,在上盖板与下盖板内侧有若干可以安装针栅结构器件的凸凹槽。
宋毅刚熊盛阳梁继远官岩吴立强
文献传递
塑封光电耦合器开封方法研究被引量:1
2020年
基于常规开封方法分析,对比塑封光电耦合器与其他塑封器件不同的结构,验证不同开封方法对塑封光电耦合器的适用性,以X射线检查和激光切割等作为手段,实现对塑封光电耦合器的无损开封。
吴立强温景超王宇任建波尹航
关键词:集成电路塑料封装光电耦合器
基于WIN7的图像采集和质量分析系统设计被引量:1
2022年
为提高图像采集质量的一致性,降低图像比对分析的难度,提升图像比对分析识别电子元器件真伪的试验效率,研究并设计了一套基于WIN7系统的图像采集和质量分析系统。该系统由acA2500-14gc相机、MLH-10X镜头、LED光源、电机、可编程逻辑控制器、计算机、以太网络等组成。验证及应用结果表明,该系统可快速采集电子元器件多角度的、清晰的、成像效果一致的图像,网络存储、调用过程稳定,并在软件中集成了不同图像间的比对分析功能,解决了电子元器件真伪识别的瓶颈问题,试验工作效率提升到60%以上。
吴立强温景超支钰崧王宇杨明
关键词:元器件图像采集
封装器件冲击振动试验夹具
本实用新型涉及封装器件冲击振动试验技术领域,具体公开了一种封装器件冲击振动试验夹具。该试验夹具整体为n×n×n的立方体结构,其中,n的范围为11cm至14cm之间;该试验夹具中心开有6×6×n(cm<Sup>3</Sup...
宋毅刚熊盛阳刘泓官岩张丽朱燕吴立强
文献传递
密封试验加压设备改进措施分析
2024年
阐述为解决因器件较多不能及时完成密封试验而使后续试验无法开展的情况,提出将密封试验加压设备由人工操作改为可编程逻辑器件控制操作的方法,可以有效缩短密封试验加压准备时间,减少人为因素的干扰,提高密封试验效率。
李泱郭焕焕贾博涛吴立强于东翔
基于光学干涉法的翻新电子元器件鉴别方法被引量:4
2020年
翻新电子元器件存在重大质量隐患,对航天装备的质量和安全构成了严重威胁。为了确保装机电子元器件的质量和可靠性,结合翻新元器件的特点,提出了一种鉴别翻新元器件的无损检测方法。首先,阐述了翻新元器件的检测方法和原理,即通过光学干涉法定量测量器件上下表面的粗糙度,并根据二者之间的差异来判断器件表面是否经过翻新处理。然后,采用该方法对正常元器件和翻新元器件的表面粗糙度差异进行对比检测分析,并进行不确定度评定。结果表明,该方法可用于对翻新元器件进行高效准确鉴别。这为全面提升航天电子元器件的质量提供了新的检测手段。
温景超吴立强赵彦飞于望
关键词:表面粗糙度无损检测
多层瓷介电容器加速贮存寿命试验方法
本发明涉及元器件可靠性技术领域,具体公开了一种多层瓷介电容器加速贮存寿命试验方法。该方法具体为:1、对多层瓷介电容器在多个高温点下进行贮存试验,获得该电容器电容量退化线性曲线;2、根据退化数据,获得在预设时间内电容量的退...
彭磊刘泓熊盛阳杜红焱孙淑英官岩赵彦飞汪翔吴立强邬文浩张爱学高憬楠林德建
文献传递
B型封装器件机械试验固定滑块件
本实用新型公开了一种B型封装器件机械试验固定滑块件包括:L型夹持结构,凸台夹持结构和针孔板;L型夹持结构上加工的凹槽和凸台夹持结构上加工的凹槽一起用于固定待测器件的器身,针孔板上加工的针眼孔用于固定待测器件的管脚,紧固螺...
宋毅刚熊盛阳刘泓陈朝杰吴立强张丽
文献传递
共2页<12>
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