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陈科伟

作品数：9 被引量：0H指数：0
供职机构：华南理工大学更多>>
相关领域：自动化与计算机技术电子电信更多>>

合作作者

文献类型

  • 8篇专利
  • 1篇学位论文

领域

  • 3篇自动化与计算...
  • 1篇电子电信

主题

  • 9篇图像
  • 6篇投影数据
  • 5篇矩阵
  • 4篇投影矩阵
  • 3篇连通域
  • 2篇断层图像
  • 2篇形态学图像处...
  • 2篇图像处理
  • 2篇图像梯度
  • 2篇图像重建
  • 2篇缺陷位置
  • 2篇物理位置
  • 2篇稀疏性
  • 2篇离散化
  • 2篇基于变分
  • 2篇方向梯度
  • 2篇高速图像
  • 2篇变分
  • 2篇CT图像
  • 1篇等式

机构

  • 9篇华南理工大学

作者

  • 9篇陈科伟
  • 8篇高红霞
  • 6篇胡跃明
  • 2篇李致富
  • 2篇章熙春

年份

  • 2篇2017
  • 1篇2016
  • 1篇2015
  • 5篇2014
共 9 条 记 录，以下是 1-9
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排序方式：
一种稀疏采样角度下基于变分不等式的CT图像重建方法
本发明公开了一种稀疏采样角度下基于变分不等式的CT图像重建方法，包括以下步骤：(1)针对扇束CT，在0到180度角度范围内进行等角度间隔投影扫描，投影方向角度间隔的大小在2到6度之间，获取稀疏投影数据y；(2)通过X射线...
高红霞陈科伟吴丽璇胡跃明
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一种高速图像识别定位信息处理机及处理方法
本发明公开了一种高速图像识别定位信息处理机，包含CCD镜头、A/D转换器、FPGA、FPGA扩展SDRAM、FPGA扩展Flash、DSP、DSP扩展SDRAM和DSP扩展Flash，其中CCD镜头，获取待检测物的图像模...
高红霞陈科伟章熙春胡跃明
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面向集成电路封装的有限角度下X-Ray图像重建
随着集成电路(Integrated Circuit, IC)技术向着高密度微型化方向快速发展，对于集成电路缺陷，特别是封装元器件的内部缺陷检测提出了更高的要求。计算机断层成像技术(Computed Tomography,...
陈科伟
关键词：集成电路正则化方法
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一种多层封装基板缺陷的X射线检测方法及系统
本发明公开了一种多层封装基板缺陷的X射线检测方法及系统，方法包括下述步骤：（1）投影数据的采集；（2）二维断层图像的重建；（3）三维图像的重建；（4）对得到的三维图像进行虚拟切割；（5）基于SURF特征将得到的二维切片X...
高红霞陈科伟李致富胡跃明
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一种多层封装基板缺陷的X射线检测方法及系统
本发明公开了一种多层封装基板缺陷的X射线检测方法及系统，方法包括下述步骤：（1）投影数据的采集；（2）二维断层图像的重建；（3）三维图像的重建；（4）对得到的三维图像进行虚拟切割；（5）基于SURF特征将得到的二维切片X...
高红霞陈科伟李致富胡跃明
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一种稀疏采样角度下基于变分不等式的CT图像重建方法
本发明公开了一种稀疏采样角度下基于变分不等式的CT图像重建方法，包括以下步骤：(1)针对扇束CT，在0到180度角度范围内进行等角度间隔投影扫描，投影方向角度间隔的大小在2到6度之间，获取稀疏投影数据y；(2)通过X射线...
高红霞陈科伟吴丽璇胡跃明
一种高速图像识别定位信息处理机及处理方法
本发明公开了一种高速图像识别定位信息处理机，包含CCD镜头、A/D转换器、FPGA、FPGA扩展SDRAM、FPGA扩展Flash、DSP、DSP扩展SDRAM和DSP扩展Flash，其中CCD镜头，获取待检测物的图像模...
高红霞陈科伟章熙春胡跃明
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一种采样角度受限下的CT图像重建方法
本发明公开了一种采样角度受限下的CT图像重建方法，包括下述步骤：(1)在投影角度范围小于180度的情况下，使用扇束的方式进行等角度间隔投影扫描，获取投影数据y；(2)通过X射线源、探测器以及待重建物体的位置信息计算投影矩...
高红霞陈科伟吴丽璇
文献传递
一种采样角度受限下的CT图像重建方法
本发明公开了一种采样角度受限下的CT图像重建方法，包括下述步骤：(1)在投影角度范围小于180度的情况下，使用扇束的方式进行等角度间隔投影扫描，获取投影数据y；(2)通过X射线源、探测器以及待重建物体的位置信息计算投影矩...
高红霞陈科伟吴丽璇
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