2025年3月20日
星期四
|
欢迎来到海南省图书馆•公共文化服务平台
登录
|
注册
|
进入后台
[
APP下载]
[
APP下载]
扫一扫,既下载
全民阅读
职业技能
专家智库
参考咨询
您的位置:
专家智库
>
>
郑娥
作品数:
2
被引量:11
H指数:2
供职机构:
中国电子科技集团第二十四研究所
更多>>
发文基金:
国家重点实验室开放基金
更多>>
相关领域:
电子电信
自动化与计算机技术
更多>>
合作作者
何林
中国电子科技集团第二十四研究所
杨沛峰
电子科技大学
杨谟华
电子科技大学
李竞春
电子科技大学
谭开洲
中国电子科技集团第二十四研究所
作品列表
供职机构
相关作者
所获基金
研究领域
题名
作者
机构
关键词
文摘
任意字段
作者
题名
机构
关键词
文摘
任意字段
在结果中检索
文献类型
2篇
中文期刊文章
领域
2篇
电子电信
1篇
自动化与计算...
主题
1篇
多晶
1篇
多晶硅
1篇
栅介质
1篇
栅介质薄膜
1篇
锗化硅
1篇
双极晶体管
1篇
介质
1篇
介质薄膜
1篇
晶体管
1篇
计算机
1篇
计算机模拟
1篇
发射极
1篇
SIO
1篇
MOS器件
1篇
SIGE
机构
2篇
中国电子科技...
1篇
东南大学
1篇
电子科技大学
作者
2篇
何林
2篇
郑娥
1篇
谭开洲
1篇
刘其贵
1篇
李竞春
1篇
杨谟华
1篇
魏同立
1篇
杨沛峰
1篇
吴金
传媒
1篇
电子器件
1篇
微电子学
年份
1篇
2002
1篇
2001
共
2
条 记 录,以下是 1-2
全选
清除
导出
排序方式:
相关度排序
被引量排序
时效排序
SiGe MOS器件SiO_2栅介质低温制备技术研究
被引量:7
2001年
为了获得电学性能良好的 Si Ge PMOS Si O2 栅介质薄膜 ,采用等离子体增强化学汽相淀积 (PECVD)工艺 ,对低温 30 0°C下薄膜制备技术进行了研究。实验表明 ,采用适当高温、短时间对PECVD薄膜退火有助于降低薄膜中正电荷密度和界面态密度。该技术用于 Si Ge PMOS研制 ,在30 0 K常温和 77K低温下 ,其跨导分别达到 45m S/mm和 92 .5m S/mm(W/L=2 0 μm/2 μm)
李竞春
杨沛峰
杨谟华
谭开洲
何林
郑娥
关键词:
栅介质薄膜
锗化硅
MOS器件
多晶硅发射极双极晶体管的工艺设计及计算机模拟
被引量:4
2002年
在简要分析多晶硅发射极双极晶体管特点的基础上 ,根据国内现有的双极工艺水平 ,设计了用于制备多晶硅发射极双极晶体管的工艺流程 ,并给出了一个最小尺寸晶体管的版图 ,最后对设计的多晶硅发射极晶体管的频率特性进行了模拟。
刘其贵
吴金
郑娥
魏同立
何林
关键词:
多晶硅
发射极
双极晶体管
计算机模拟
全选
清除
导出
共1页
<
1
>
聚类工具
0
执行
隐藏
清空
用户登录
用户反馈
标题:
*标题长度不超过50
邮箱:
*
反馈意见:
反馈意见字数长度不超过255
验证码:
看不清楚?点击换一张