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苏洪源

作品数:5 被引量:4H指数:1
供职机构:北京工业大学电子信息与控制工程学院更多>>
发文基金:国家教育部博士点基金国家自然科学基金国家电网公司科技项目更多>>
相关领域:电子电信更多>>

文献类型

  • 5篇中文期刊文章

领域

  • 5篇电子电信

主题

  • 2篇晶体管
  • 2篇绝缘栅
  • 2篇仿真
  • 2篇掺杂
  • 1篇单片
  • 1篇单片机
  • 1篇电荷耦合
  • 1篇动态特性
  • 1篇动态特性测试
  • 1篇雪崩
  • 1篇载流子
  • 1篇栅驱动
  • 1篇双极型
  • 1篇双极型晶体管
  • 1篇双脉冲
  • 1篇损耗
  • 1篇通态压降
  • 1篇埋层
  • 1篇脉冲
  • 1篇脉冲发生器

机构

  • 5篇北京工业大学
  • 5篇国网智能电网...

作者

  • 5篇贾云鹏
  • 5篇苏洪源
  • 4篇匡勇
  • 4篇李蕊
  • 4篇屈静
  • 3篇吴郁
  • 3篇胡冬青

传媒

  • 4篇半导体技术
  • 1篇智能电网

年份

  • 3篇2015
  • 2篇2014
5 条 记 录,以下是 1-5
排序方式:
150V电荷耦合功率MOSFET的仿真被引量:1
2014年
电荷耦合是适用于中等电压功率MOSFET设计的先进设计理念之一,该设计思想旨在改善器件阻断态下的电场分布从而提高耐压。针对150V电荷耦合功率MOSFET双外延漂移区(分别为电荷耦合区N1区与非耦合区N2区)电荷匹配问题进行了仿真优化研究,结果表明:N1区和N2区浓度分别约为2.2×10^16cm^-3和4.5×10^15cm。时,电场分布更加均匀、耐压更高,且比导通电阻仅为1.306mQ·cm^2,即击穿电压和比导通电阻间达到最佳匹配。同时,还针对器件不同槽深进行了静态特性和动态特性的整体仿真优化研究,结果表明:槽深在7~9μm时,器件满足耐压要求且击穿电压随双漂移区掺杂浓度匹配程度变化较为平稳。最后,优化结构与传统槽栅MOSFET相比,其栅漏电容和栅电荷大幅降低,器件优值降低了约87%。
李蕊胡冬青金锐贾云鹏苏洪源匡勇屈静
关键词:电荷耦合场板
600V高性能新型槽栅内透明IGBT的仿真被引量:1
2014年
载流子存储层(CSL)可以改善IGBT导通态载流子分布,降低通态电压,但影响器件阻断能力。为了平衡载流子存储层对器件阻断能力的影响,在器件n-漂移区中CSL层处近哑元胞侧设计了p型埋层(p BL),利用电荷平衡的理念改善电场分布,并借助ISE-TACD仿真工具,依托内透明集电极(ITC)技术,研究了600 V槽栅CSL-p BL-ITC-IGBT电特性。为了保证器件承受住不小于10μs的短路时间,设置了哑元胞。在此基础上,仿真分析了CSL和p BL的尺寸及掺杂浓度、哑元胞尺寸等对器件特性的影响,并与普通的槽栅ITC-IGBT、点注入局部窄台面(PNM)ITC-IGBT的主要技术指标进行对比,给出CSL和p BL的尺寸及掺杂浓度的最佳范围。结果表明,合理的参数设计可使CSL-p BL-ITC-IGBT具有更优的技术折中曲线。
苏洪源胡冬青刘钺杨贾云鹏李蕊匡勇屈静
关键词:槽栅
功率快恢复二极管反偏ESD与雪崩耐量仿真
2015年
静电放电(ESD)失效与雪崩耐量是影响高压硅功率二极管,如功率快恢复二极管(FRD)性能及可靠性的两个主要因素。利用ISE TCAD平台,采用简明分段线性电流源,分别对功率FRD反偏ESD过程及雪崩耐量进行仿真计算,讨论二者的共性和差异。结果表明,器件外端电压波形均经历过冲、负阻振荡和平缓发展三个阶段,对应器件内部的"过耗尽"、雪崩注入、载流子及电场分布涨落等复杂变化,差别在于反偏ESD造成的电压过冲更明显,且出现典型的U型电场分布,与雪崩耐量相比对器件造成的影响更剧烈。为改善器件在反偏ESD和雪崩耐量测试过程中的电流丝化问题,考察了结构参数对器件抗ESD能力和雪崩耐量的影响,发现提高n-区掺杂浓度和阳极表面浓度对提高抗ESD能力和雪崩耐量起到促进作用。
屈静吴郁刘钺杨贾云鹏匡勇李蕊苏洪源
缓变场终止型IGBT特性的仿真被引量:2
2015年
为改善场终止型绝缘栅双极型晶体管(FS-IGBT)电场终止能力的可靠性,对一种缓变场终止型绝缘栅双极型晶体管(GFS-IGBT)的特性进行了仿真研究。与传统FS-IGBT的突变场终止层不同,GFS-IGBT所具有的场终止层是一个厚度为20-30μm,峰值掺杂浓度为3.5×10^15cm^-3的缓变场终止层。采用Sentaurus TCAD仿真软件,对600 V/20 A的FS-IGBT与GFS-IGBT和非穿通型IGBT(NPT-IGBT)在导通、开关和短路特性等方面进行了对比仿真。结果表明,在给定的参数范围内,GFS-IGBT具有更低的通态压降、良好的关断电压波形以及更小的关断能耗。最后介绍了一种针对600 V IGBT器件的缓变场终止结构的制造技术。
匡勇贾云鹏金锐吴郁屈静苏洪源李蕊
关键词:通态压降关断损耗
用于功率器件动态特性测试的栅驱动脉冲发生器
2015年
功率器件作为电力电子器件的典型代表,在智能电网的相关设备中起着至关重要的作用。针对智能电网中所用的功率器件(绝缘栅双极晶体管(insulated-gate bipolar transistor,IGBT)、金属–氧化层半导体场效应晶体管(metal-oxide-semiconductor field-effect transistor,MOSFET))的动态参数测试过程中的栅极驱动要求,设计基于STC89C52单片机的脉冲逻辑信号发生器,该发生器可以根据测试所需输出单、双脉冲,并依据实测原件测试的需求调节脉冲宽度和脉冲间距。具体脉冲信号种类(单脉冲或双脉冲)、脉冲宽度可调,且精度能达到1μs,显示精度小于0.02μs;同时,可根据需要设定单次输出或周期性输出两种工作模式。实测结果表明,该脉冲发生器输出电压稳定性高、精确度高,具有很好的实用价值。
苏洪源杨霏贾云鹏吴郁胡冬青李立
关键词:双脉冲STC89C52单片机脉冲发生器
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