李盈慧 作品数:12 被引量:21 H指数:3 供职机构: 中国电子科技集团第十三研究所 更多>> 相关领域: 电子电信 一般工业技术 机械工程 电气工程 更多>>
直流稳定电源计量插头 本实用新型提供了一种直流稳定电源计量插头,包括电压长杆、套设于电压长杆上的绝缘套筒、套设于绝缘套筒上的电流套筒,及套设于电流套筒上的绝缘外壳;电压长杆的一端设有用于与直流稳定电源的插孔底端抵接并与所述插孔内壁接触的导电头... 荆晓冬 郑世棋 任宇龙 杜蕾 范雅洁 丁晨 李盈慧基于红外测温技术的微波功率器件降温曲线测量系统 为了有效实现对微波功率器件的热特性分析,本文在瞬态红外设备基础上开发了一套用于微波功率器件降温曲线测量的系统.分析了瞬态红外设备的原理,并根据降温曲线测量需要对设备进行改造,开发了数据采集和处理系统替代原有设备对应功能,... 刘岩 丁立强 李盈慧 刘霞美关键词:微波功率器件 程序设计 红外测温技术 文献传递 无电压取样端直流稳定电源校准专用插头设计 被引量:1 2020年 直流稳定电源在实际应用中,其稳压状态的输出电压在电源空载状态时和带载状态时存在一定差值,这个差值被称为稳压负载效应,直流稳定电源的稳压负载效应是体现其输出电压对输出回路中负载变化抑制能力的重要指标。直流稳定电源按其输出端可分为有、无电压取样端两种输出形式。通过分析常用直流稳定电源稳压负载效应校准的连线方法,针对无电压取样端的直流稳定电源设计了一款专用插头,在引入极小测量误差的情况下,使接线更为方便快捷,从而提高校准直流稳定电源的工作效率。 荆晓冬 郑世棋 任宇龙 李盈慧 范雅洁 杜蕾关键词:校准 插头 用热反射测温技术测量GaNHEMT的瞬态温度 被引量:14 2016年 利用具备亚微米量级空间分辨率和纳秒级时间分辨率的热反射测温技术对工作在脉冲偏置条件下的CGH4006P型Ga N HEMT进行了瞬态温度检测。测量了Ga N器件表面栅极、漏极和源极金属各部位在20μs内的瞬态温度幅度、分布及变化速度等数据。栅极、漏极和源极的温度幅度有着非常明显的差距,器件表面以栅为中心呈现较大的温度分布梯度。器件表面栅金属温度变化幅度最高、变化速度最快,其主要温度变化发生在5μs之内。经过仔细分析,器件各部位温度差异的主要原因是器件的传热方向、不同区域与发热点的距离。 翟玉卫 梁法国 郑世棋 刘岩 李盈慧用于显微红外热像仪响应时间参数测试的模拟脉冲温度源 本实用新型公开一种用于显微红外热像仪响应时间参数测试的模拟脉冲温度源,涉及辐射测温装置技术领域。所述温度源包括红外辐射源和光学调制器,红外辐射源与光学调制器正对设置,所述红外辐射源发出的恒定的红外信号传输至光学调制器,光... 刘岩 翟玉卫 刘霞美 赵琳 丁立强 李盈慧文献传递 电学法热阻测试仪校准方法研究 被引量:3 2015年 论文分析了电学法热阻测试仪的工作原理及测量过程,明确了测量过程中各个电、热参数对热阻测试结果的作用和意义。由热阻的基本定义出发,推导出了各种电热参数与热阻之间的测量模型,选择K系数测量电流的短期稳定性,电压测量值,加热电流和加热电压,加热平台温度,参考位置温度为主要校准参数。从整体校准的角度,给出了校准方法,分析了各种影响量引入的测量不确定度,给出了最终测量不确定度评定过程。为实现电学法热阻测试仪的整体校准奠定了基础。 翟玉卫 郑世棋 程晓辉 李盈慧关键词:电学法 校准 测量不确定度 用于校准在片高值电阻测量系统的标准件及其制备方法 本发明公开了一种用于校准在片高值电阻测量系统的标准件及其制备方法,涉及计量技术领域。本发明的标准件包括衬底,在衬底上注入硼离子,在注入硼离子的衬底上设有若干对金属电极,每一对金属电极构成一个独立单元,在同一个衬底上的所有... 刘岩 乔玉娥 郑世棋 梁法国 吴爱华 翟玉卫 丁晨 程晓辉 李盈慧文献传递 热反射测温中基于随机共振的微小信号测量 被引量:8 2019年 提出了利用随机共振技术提高基于CCD探测器的热反射测温装置温度分辨力的方法。设定了CCD探测器量化效应的规则,分析了随机共振在非线性的CCD探测器测量过程中的作用机理,从理论上计算出了应用随机共振后CCD探测器测量微小信号的结果。利用Lab VIEW编写仿真程序,对不同噪声强度对微小信号的测量效果进行了仿真,仿真结果与计算结果一致。仿真结果还显示:噪声强度越低误差越大,噪声强度大于1时,仿真结果与真实值基本一致。搭建了一套理论分辨力1.035℃的可见光热反射测温实验装置,测量0.5℃的微小温度变化,测得结果在0.455~0.673℃的范围内,结果证明了随机共振能够提高CCD探测器小信号测量能力。 翟玉卫 郑世棋 刘岩 李盈慧 梁法国关键词:计量学 随机共振 CCD探测器 MEMS晶圆片测试系统绝缘电阻参数校准技术研究 MEMS晶圆片测试系统是MEMS产品在片测试的关键中测仪器.本文针对其在片绝缘电阻参数无法溯源的现状,制作在片标准件,解决了兆欧级电阻参数的校准问题,保证了MEMS产品绝缘特性测试的准确度,为在片绝缘电阻参数的校准提供了... 乔玉娥 范雅洁 杜蕾 李盈慧关键词:绝缘特性 校准技术 文献传递 用于校准在片高值电阻测量系统的标准件 本发明提供了一种用于校准在片高值电阻测量系统的标准件,涉及计量技术领域。本发明的标准件包括衬底,在衬底上注入硼离子,在注入硼离子的衬底上设有若干对金属电极,每一对金属电极构成一个独立单元,在同一个衬底上的所有的金属电极的... 刘岩 乔玉娥 郑世棋 梁法国 吴爱华 翟玉卫 丁晨 程晓辉 李盈慧文献传递