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文献类型

  • 2篇中文专利

主题

  • 2篇电容
  • 2篇电容量
  • 2篇电容器
  • 2篇多层瓷介电容...
  • 2篇退化数据
  • 2篇温度曲线
  • 2篇介电
  • 2篇瓷介电容器
  • 1篇元器件
  • 1篇温下
  • 1篇高温
  • 1篇高温点

机构

  • 2篇中国运载火箭...

作者

  • 2篇刘泓
  • 2篇吴立强
  • 2篇邬文浩
  • 2篇彭磊
  • 2篇赵彦飞
  • 2篇林德建
  • 2篇张爱学
  • 2篇孙淑英
  • 2篇汪翔

年份

  • 1篇2016
  • 1篇2014
2 条 记 录,以下是 1-2
排序方式:
多层瓷介电容器加速贮存寿命试验方法
本发明涉及元器件可靠性技术领域,具体公开了一种多层瓷介电容器加速贮存寿命试验方法。该方法具体为:1、对多层瓷介电容器在多个高温点下进行贮存试验,获得该电容器电容量退化线性曲线;2、根据退化数据,获得在预设时间内电容量的退...
彭磊刘泓熊盛阳杜红焱孙淑英官岩赵彦飞汪翔吴立强邬文浩张爱学高憬楠林德建
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多层瓷介电容器加速贮存寿命试验方法
本发明涉及元器件可靠性技术领域,具体公开了一种多层瓷介电容器加速贮存寿命试验方法。该方法具体为:1、对多层瓷介电容器在多个高温点下进行贮存试验,获得该电容器电容量退化线性曲线;2、根据退化数据,获得在预设时间内电容量的退...
彭磊刘泓熊盛阳杜红焱孙淑英官岩赵彦飞汪翔吴立强邬文浩张爱学高憬楠林德建
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共1页<1>
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