王伟
- 作品数：20 被引量：46H指数：4
- 供职机构：中国科学院计算技术研究所更多>>
- 发文基金：国家高技术研究发展计划国家自然科学基金国家教育部博士点基金更多>>
- 相关领域：自动化与计算机技术电子电信更多>>
- SCANGIN:一种降低扫描测试中动态功耗的方法被引量：2
- 2006年
- 通过调整扫描链上扫描单元顺序与逻辑门插入相结合,以减少扫描移入阶段扫描链上不必要的状态跳变,从而达到降低测试中电路动态功耗的目的.在ISCAS’89基准电路上进行的实验表明,该方法最多能将扫描移入阶段峰值功耗降低94.5%,平均功耗降低93.8%,而面积开销可以忽略不计.
- 李佳胡瑜李晓维王伟
- 关键词：可测试性设计动态功耗扫描链
- 进化神经网络及其在图像不变性理解中的应用
- 胡宏刘继敏万华林梁永全王伟王纪华
- 该课题把神经网络与遗传机制结合起来，探索在空间上从局部到整体、时间上的从短期到长期的神经网络演化机制在图像不变性理解中的应用规律，并作出一个具有初步实用性的系统。找到了一种用神经网络对图像的颜色快或纹理块进行有效划分的方...
- 关键词：
- 关键词：图像理解神经网络模式识别
- 一个新的变形模板匹配方法被引量：13
- 1999年
- 在基于内容的图像信息查询与模式识别等方面，变形模板匹配都是一个十分有效的方法．本文对模板匹配方法中的模板结构、能量公式、形变方式等方面进行Z研究：以生物体为原型，提出了更为合理的模板结构；简化了模板的内能表达式及能量梯度的求法；提出了平面形状拟相似的概念，使模板形变具有较好的心理学上的基础．最后给出了用变形模板匹配实现基于形状的图像信息查询的例子．
- 刘继敏王伟史忠植
- 关键词：模式识别图像分割图像处理
- 针对片上网络组播通信模型的设计与仿真
- 2009年
- 文章提出了一种针对片上网络的组播通信模型,能够为片上网络提供无死锁的通信。该模型能显著减少总通信量,增加通道利用率;在测试模式下,能有效节省测试时间。将该模型仿真应用到二维带环网格拓扑结构的片上网络中,试验结果表明,该模型较单播通信具有更小的平均传输延迟和更高的吞吐量。
- 欧阳一鸣朱兵梁华国王伟
- 关键词：片上网络组播通信无死锁路由算法
- 一种双模互锁的容软错误静态锁存器被引量：6
- 2009年
- 针对太空环境下粒子辐射引发的软错误已经成为芯片失效的主导原因，提出一种容软错误锁存器结构——DIL—SET。该结构在内部构建基于C单元的双模互锁结构，针对单事件翻转进行防护。ISCAS-89标准电路在UMC0．18um工艺下的实验表明，使用DIL—SET代替未经加固的静态锁存器，面积开销增加4．99％～53．47％，软错误率平均下降99％以上。
- 梁华国黄正峰王伟王伟
- 关键词：软错误
- 一种基于三模冗余令牌的自恢复控制器
- 2009年
- 针对集成电路特征尺寸进入纳米级后软错误率持续攀升的问题,本文以状态机拆分和三模冗余令牌为基础,提出更为可靠的自恢复控制器结构,并对典型基准电路进行了故障注入和仿真综合实验。结果表明,该结构以很小的硬件代价取得了更好的容错效果。
- 孙科梁华国黄正峰王伟
- 关键词：自恢复三模冗余令牌
- 基于跨层信息的信息中心网络缓存算法研究
- 2015年
- 为了提高信息中心网络(ICN)的性能,研究了ICN缓存算法的优化设计。针对现有的缓存算法冗余度高、命中率较低的问题,提出了一种基于跨层设计的全新的ICN缓存算法CRCache,该算法根据网络层信息与应用层信息之间的相关性,有选择地将内容缓存在与其相匹配的路由器上。通过这种跨层的缓存设计,CRCache缓存算法能够消除网络中不必要的冗余内容、提高缓存命中率、减少网络流量。设计并实现了基于真实用户访问日志与真实中国网络拓扑的大规模仿真实验,通过实验证明,该算法在缓存命中率、网络流量减少率、服务器负载等指标上均优于现有的缓存算法。
- 王伟孙毅孙毅李军
- 关键词：缓存算法跨层设计
- IPTV音视频QoE实时评估算法研究
- 王伟
- 关键词：IPTVQOE马尔可夫模型
- 基于伪随机子信道选择策略的下行干扰消除方法及系统
- 本发明提供了一种基于分簇伪随机子信道选择策略的下行干扰消除方法及系统，其中方法包括：步骤1，簇的生成：终端进行参考信号测量，根据测量到的物理值确定家庭基站之间的相互干扰强度，利用该所述相互干扰强度生成干扰图，其中所述干扰...
- 周一青黄伊王伟刘航田霖陈海华石晶林
- 文献传递
- 低功耗测试研究进展被引量：2
- 2009年
- 随着CMOS器件进入纳米时代,测试时产生的功耗大大超过系统正常工作时的功耗,测试功耗已成为影响芯片设计的重要因素,芯片测试时的低功耗技术也已经成为当前学术界和工业界的一个研究热点。文章首先介绍了低功耗测试技术的基本概念,分析测试中的静态功耗和动态功耗;其次,分类介绍目前常用的测试功耗控制技术;然后,对研究热点的变化和技术发展的趋势做出说明。
- 方芳王伟王伟王杰陈田
- 关键词：测试功耗低功耗芯片设计
