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宋泽明

作品数：2 被引量：13H指数：2
供职机构：北京自动测试技术研究所更多>>
相关领域：电子电信自动化与计算机技术更多>>

合作作者

文献类型

  • 2篇中文期刊文章

领域

  • 2篇电子电信
  • 1篇自动化与计算...

主题

  • 2篇ARM_CO...
  • 2篇ATE
  • 2篇IC测试
  • 2篇CORTEX...
  • 2篇ARM
  • 1篇微处理器
  • 1篇处理器

机构

  • 2篇北京自动测试...

作者

  • 2篇李杰
  • 2篇宋泽明
  • 2篇生晓坤

传媒

  • 2篇电子测试

年份

  • 2篇2013
共 2 条 记 录，以下是 1-2
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排序方式：
ARM Cortex-M3微处理器测试方法研究与实现被引量：7
2013年
作为32位RISC微处理器主流芯片,ARM芯片得到长足发展和广泛应用。因而,ARM芯片的测试需求更加强劲的同时,测试工作量在加大,测试复杂度也在增加。本文给出了基于ARMCortex-M3的微处理器测试方法,该方法也可用于类似结构的微处理器测试。
蒋常斌生晓坤李杰宋泽明
关键词：ATEARMCORTEX-M3IC测试
ARM Cortex-M3微处理器测试方法被引量：7
2013年
作为32位RISC微处理器主流芯片，ARM芯片得到长足发展和广泛应用。因而，ARM芯片的测试需求更加强劲的同时，测试工作量在加大，测试复杂度也在增加。本文给出了基于ARM Cortex—M3的微处理器测试方法，该方法也可用于类似结构的微处理器测试。
蒋常斌生晓坤李杰宋泽明
关键词：ATEARMCORTEX-M3IC测试
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