邓永芳
- 作品数：25 被引量：39H指数：4
- 供职机构：中国电子科技集团第二十四研究所更多>>
- 相关领域：电子电信文化科学一般工业技术机械工程更多>>
- 用于微小腔体电路内部气氛检测结果比对的双腔结构
- 本发明涉及质量与可靠性领域、检测技术研究领域，特别涉及一种用于微小腔体电路内部气氛检测结果比对的双腔结构，包括管壳和盖板，管壳使用间隔板隔断分离形成第一腔体和第二腔体，间隔板与外壁等高，且第一腔体与第二腔体共用一块盖板，...
- 谭骁洪李晓红罗俊邢宗锋张锋邓永芳邱忠文吴兆希林震朱朝轩杨迁
- 恒定温度应力下的模拟IC加速退化试验研究被引量：1
- 2016年
- 研究了在不同恒定温度应力条件下某型号驱动器的模拟集成电路的加速退化试验。首先,确定了该型驱动器的敏感参数,并建立了敏感参数的退化模型;然后,计算得到了器件在加速应力下的伪寿命;最后,利用阿伦尼斯模型对伪寿命数据进行分析,外推得到了器件的激活能及其在正常工作应力条件下的寿命信息。
- 吴兆希李晓红邓永芳蔡建荣杨少华
- 关键词：加速退化试验激活能驱动器
- 微电路内部气氛检测试验夹具
- 本发明公开了一种微电路内部气氛检测试验夹具，涉及电子产品可靠性与环境试验领域，它由母夹体、子夹体、盖体组成，母夹体的一端中心部位设有内凹的压腔，用于放置子夹体，压腔内设有贯穿的连接通道，用于容纳待测试器件，母夹体在与压腔...
- 谭骁洪罗俊邢宗锋杨迁李晓红邓永芳张丽巍李真张锋邱忠文吴兆希朱朝轩林震
- 文献传递
- 双极型模拟集成电路抗辐射加固技术
- 介绍了辐射环境下影响双极型模拟集成电路可靠性的主要因素，揭示了双极型模拟集成电路抗辐射加固研究工作的重要性和紧迫性。通过对设计、工艺、原材料和元器件等方面采取对策和措施，达到提高双极型模拟集成电路抗辐射加固能力的目的。
- 李晓红罗俊邓永芳胡波
- 关键词：武器装备可靠性分析失效模式
- 影响剪切强度试验结果的因素研究被引量：1
- 2015年
- 分析了影响剪切强度试验结果的因素;对这些影响因素进行逐一试验;建立了数学模型,对试验数据进行统计分析。根据研究结果,改进试验操作方法,提高试验结果的准确性。
- 邓永芳李真罗俊张丽巍
- 关键词：数学模型统计分析
- 片式电阻电容元件焊点剪切强度试验研究
- 2017年
- 通过分析片式电阻电容元件焊接后的成形形貌,进而分析对剪切试验结果的影响,并采用不同的剪切试验进行比对试验验证。
- 邓永芳张丽巍李晓红
- 关键词：试验验证
- 小腔体器件内部气氛检测试验夹具优化研究被引量：4
- 2017年
- 简要介绍了小腔体器件内部气氛检测结果的主要影响因素,研究分析了当前小腔体器件内部气氛检测试验夹具存在的缺陷,明确提出了小腔体器件内部气氛检测试验夹具的优化思路和设计模型,提高了试验结果的准确性和稳定性。
- 谭骁洪邱盛罗俊黄姣英邢宗锋李晓红邓永芳
- 粒子碰撞噪声检测(PIND)试验设备灵敏度的定量分析被引量：1
- 2014年
- 介绍了一种检测粒子碰撞噪声检测试验设备的灵敏度的定量分析方法。使用该方法可直观观测到设备的灵敏度。
- 邓永芳李晓红张丽巍罗俊
- 关键词：灵敏度
- 一种新的DC-DC混合电源寿命预计方法被引量：4
- 2015年
- 随着国产DC-DC混合电源产品的快速发展,其寿命越来越长,如何快速、准确地评价产品的寿命成为一项十分重要且紧迫的问题。瓷介电容和厚膜电阻是DC-DC混合电源中最容易发生失效的部位,是影响DC-DC混合电源寿命的关键元器件。通过对瓷介电容和厚膜电阻进行加速寿命试验,得到实际的失效率,进而通过可靠性预计的方法,获得DC-DC混合电源准确的寿命信息。
- 李真邓永芳罗俊
- 低温试验测量审核不满意的分析
- 2014年
- 对ZTH020U型高低温湿热试验箱低温试验测量审核不满意的原因进行了分析,并提出了相应的措施。后续参比试验在此基础上,均未出现不满意的结果。
- 邓永芳罗俊
