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罗晓武

作品数：1 被引量：2H指数：1
供职机构：国家电子计算机外部设备质量监督检验中心更多>>
相关领域：电子电信更多>>

文献类型

  • 1篇中文期刊文章

领域

  • 1篇电子电信

主题

  • 1篇电子产品
  • 1篇整机
  • 1篇子产
  • 1篇技术应用
  • 1篇高加速寿命试...
  • 1篇HALT

机构

  • 1篇国家电子计算...

作者

  • 1篇罗晓武

传媒

  • 1篇科技传播

年份

  • 1篇2013
共 1 条 记 录，以下是 1-1
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排序方式：
电子产品整机高加速寿命试验(HALT)技术应用被引量：2
2013年
高加速寿命试验(HALT)起源于上世纪80年代末期的美国,经过20多年的不断研究和发展,现已成为美国和西方发达国家进行产品设计质量验证与产品制造质量验证的一个最基本的也是必须执行的验证方法。这项旨在提高电子产品质量可靠性的试验技术在2005年后随着外资企业在国内使用和带动下而逐渐为国内一些知名的电子产品生产企业所熟悉和接受,而如何有效地运用HALT试验技术来达到提高自身电子产品质量的目的 ,是广大电子产品生产企业所最关心的问题。在这样的背景下,本文对高加速寿命试验(HALT)方法技术应用进行了初步探析。
罗晓武
关键词：电子产品HALT
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