您的位置： 专家智库 > >

苏金龙

作品数：21 被引量：2H指数：1
供职机构：华中科技大学更多>>
发文基金：国家自然科学基金更多>>
相关领域：电子电信文化科学自动化与计算机技术化学工程更多>>

合作作者

文献类型

  • 19篇专利
  • 1篇学位论文
  • 1篇会议论文

领域

  • 6篇电子电信
  • 3篇文化科学
  • 2篇自动化与计算...
  • 1篇化学工程

主题

  • 11篇辐射计
  • 9篇毫米波辐射
  • 6篇亮温
  • 6篇极化
  • 5篇毫米波
  • 4篇天线
  • 4篇吸波
  • 4篇发射率
  • 4篇辐射率
  • 3篇信号
  • 3篇吸波材料
  • 2篇电压
  • 2篇信号处理
  • 2篇阵列
  • 2篇阵列信号
  • 2篇阵列信号处理
  • 2篇射频
  • 2篇射频干扰
  • 2篇矢量
  • 2篇矢量化

机构

  • 21篇华中科技大学

作者

  • 21篇苏金龙
  • 20篇胡飞
  • 9篇朱冬
  • 3篇田岩
  • 2篇贺锋
  • 2篇桂良启
  • 2篇郎量
  • 1篇付鹏
  • 1篇王成斌

年份

  • 3篇2024
  • 4篇2023
  • 4篇2022
  • 1篇2021
  • 3篇2020
  • 2篇2019
  • 1篇2018
  • 1篇2017
  • 1篇2016
  • 1篇2015
共 21 条 记 录，以下是 1-10
全选 清除 导出
排序方式：
一种基于多拍联合稀疏重构的射频干扰源定位方法和系统
本发明公开一种基于多拍联合稀疏重构的射频干扰源定位方法和系统，属于阵列信号处理与源定位领域。包括：获取天线阵列等效视场的连续多拍信号，将每个单拍信号进行互相关、视场配准、矢量化操作，利用冗余转移矩阵进行冗余平均，得到该单...
朱冬徐炎煜胡飞苏金龙
一种基于辐射计输出电压的目标辐射率的测量方法
本发明公开了一种基于辐射计输出电压的目标辐射率的测量方法，属于无源微波遥感与探测技术领域，包括：利用辐射计分别对同一位置的金属目标、待测目标、黑体目标进行测量，得到第一电压、第二电压和第三电压；利用第一电压、第二电压和第...
胡飞苏金龙田岩程亚运伍宏飞胡演宋梦婷
文献传递
一种基于基片集成同轴线前后扫描的漏波天线设计
本文提出了一种基于基片集成同轴线(substrate-integrated coaxial line,SICL)前后扫描的漏波天线。在SICL金属层刻蚀领结缝隙通过耦合的方式激励贴片,通过控制缝隙和贴片的尺寸灵活控制工作...
陈俊江苏金龙胡飞
关键词：漏波天线
基于分形理论的煤颗粒物理结构与细观力学特性关系研究
提高破碎能效是煤炭洁净技术的重要研究课题。本文从全新的角度——基于分形理论的细观力学层面来研究煤破碎过程演化规律。以阳泉、神木、红沙泉、五彩湾四种典型煤为研究对象，利用分形理论分析方法、图像处理技术并配合先进的单轴压缩力...
苏金龙
关键词：煤颗粒力学特性
一种基于反射极化度的复介电常数测量方法及系统
本发明属于毫米波辐射探测技术领域，公开了一种基于反射极化度的复介电常数测量方法及系统，包括：在测试时间[0,t]内，保持待测材料的物理温度不变，使以当前入射角θ<Sub>i</Sub>入射到待测材料表面的环境辐射处于变化...
苏金龙 李红娟胡飞朱冬
基于差别辐照的材料样品毫米波发射率测量方法及系统
本发明公开了基于差别辐照的粗糙表面材料样品毫米波发射率测量方法及系统，包括构建两种不同强度均匀无极化辐照环境，将材料样品、反射参考体以及辐射参考体置于其中；利用辐射计在该两种环境下分别对同一位置的材料样品、反射参考体以及...
苏金龙李红娟胡飞朱冬
一种基于极化毫米波辐射的获取目标表面方位信息的方法
本发明公开了一种基于极化毫米波辐射的获取目标表面方位信息的方法；通过在无极化辐射环境中分别以三种不同的天线极化旋转角度对包含目标的场景进行成像，得到目标的亮温图像；再计算每个表面的平均亮温值；然后将每个表面的三种不同天线...
胡飞程亚运贺锋桂良启田岩郎量苏金龙
一种基于雷达与辐射计协同感知的目标探测方法及系统
本发明公开了一种基于雷达与辐射计协同感知的目标探测方法及系统，属于目标探测技术领域，包括：S1、获取分别采用雷达传感器和辐射计传感器对同一场景进行探测所得的第一源图像和第二源图像；S2、分别对第一源图像和第二源图像进行预...
朱冬颜雨生胡飞苏金龙
一种不同物理温度下室内目标的毫米波发射率测量方法
本发明公开了一种不同物理温度下室内目标的毫米波发射率测量方法，包括将待测目标和黑体目标设置于同一室温下，使得所述待测目标和所述黑体目标的物理温度相同；构建不同亮温的室内均匀辐射环境，依次将金属目标、待测目标和黑体目标置于...
胡飞苏金龙胡演
文献传递
基于差别辐照的材料样品毫米波发射率测量方法及系统
本发明公开了基于差别辐照的粗糙表面材料样品毫米波发射率测量方法及系统，包括构建两种不同强度均匀无极化辐照环境，将材料样品、反射参考体以及辐射参考体置于其中；利用辐射计在该两种环境下分别对同一位置的材料样品、反射参考体以及...
苏金龙李红娟胡飞朱冬
全选 清除 导出
共3页<123>
聚类工具0