李龙
- 作品数：8 被引量：5H指数：2
- 供职机构：西南技术物理研究所更多>>
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- 一种扁平式象限激光探测器组件及其制备方法
- 本发明属于半导体光电探测器技术领域，公开了一种扁平式象限激光探测器组件及其制备方法，探测器组件包括光敏芯片、放大电路和器件壳体；探测器组件内部光敏芯片与放大电路采用平面布局；光敏芯片为象限光电二极管，用于将接收到的激光信...
- 陈剑路小龙陈蔚寇先果宋海智黄海华邓杰庞树帅李龙蒋欣彦
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- 公共极进光半导体光电二极管阵列芯片测试用工装夹具
- 本发明公开了一种公共极进光半导体光电二极管阵列芯片测试用工装夹具，包括：水平底座、积分球、方形固定架、玻璃板；方形固定架设置在水平底座上，方形固定架内部放置积分球；方形固定架顶部开宽槽，宽槽内中心开圆孔，圆孔与积分球出光...
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- 一种扁平式象限激光探测器组件
- 本实用新型属于半导体光电探测器技术领域，公开了一种扁平式象限激光探测器组件，探测器组件包括光敏芯片、放大电路和器件壳体；探测器组件内部光敏芯片与放大电路采用平面布局；光敏芯片为象限光电二极管，用于将接收到的激光信号转换为...
- 陈剑路小龙陈蔚寇先果宋海智黄海华邓杰庞树帅李龙蒋欣彦
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- 硅雪崩光电探测器工作寿命试验及失效分析研究被引量：3
- 2016年
- 通过FMEA分析和加速寿命试验,确定了硅雪崩光电探测器的主要失效模式有两种,一种是暗电流超标,另一种是前放输出电压不合格;对这两种失效模式进行了失效分析,认为是高温应力引起器件内部气氛的变化,主要是氢气含量变大引起器件暗电流不合格;大电流引起前置放大电路上晶体管损伤是前放输出电压不合格的原因。
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- 关键词：FMEA加速寿命试验
- 光电探测器寿命评估试验系统
- 本发明提出的一种光电探测器寿命评估试验系统，旨在提供一种实时自动监测、采集数据，能同时对探测器施加三种任意组合应力进行寿命试验的评估试验系统。本发明通过下述技术方案予以实现：光控制试验系统通过光纤分路器将来自半导体激光器...
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- 光纤耦合输出小光斑形成装置和光电探测器测试装置
- 本实用新型涉及一种光纤耦合输出小光斑形成装置，属于光电探测器测试技术领域。以往常用的FC光纤出光头发射出的光发散较严重，测试串扰时会导致测试结果偏大。出光头加装聚焦透镜的光纤发出的脉冲激光在焦点处形成很小的光斑，但这类光...
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- 硅雪崩光电探测器加速工作寿命试验应用研究被引量：2
- 2016年
- 为了通过加速寿命试验评估硅雪崩光电探测器的工作寿命,通过FMEA分析和摸底试验,确定了硅雪崩光电探测器的主要失效模式、敏感应力和极限应力,设计并实施了加速工作寿命试验,得到了与理论分析和摸底试验相同的结果:温度应力是影响硅雪崩光电探测器工作寿命的主要应力,最高工作温度应力极限是130℃,对温度应力敏感的参数是暗电流和前放静态输出电压,验证了加速工作寿命试验方案的合理性和可行性。
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- 关键词：工作寿命温度应力暗电流加速寿命试验
- 光电探测器寿命评估试验系统
- 本发明提出的一种光电探测器寿命评估试验系统，旨在提供一种实时自动监测、采集数据，能同时对探测器施加三种任意组合应力进行寿命试验的评估试验系统。本发明通过下述技术方案予以实现：光控制试验系统通过光纤分路器将来自半导体激光器...
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