宋楠
- 作品数：60 被引量：66H指数：5
- 供职机构：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所更多>>
- 发文基金：国家自然科学基金吉林省科技发展计划基金国家重大技术装备创新研制项目更多>>
- 相关领域：机械工程自动化与计算机技术电子电信理学更多>>
- 光栅刻划系统等速凸轮机构设计被引量：2
- 2014年
- 从光栅刻划机的实际应用出发,推导了一种适用于低速运动的等速凸轮的轮廓线计算公式,并对凸轮的振动情况进行了模态分析及实验验证。
- 宋楠
- 关键词：光栅刻划振动
- 中阶梯光谱仪的光谱定标方法、装置、设备及存储介质
- 本申请公开了一种中阶梯光谱仪的光谱定标方法、装置、设备及计算机可读存储介质。其中，方法包括利用图像处理算法计算当前帧汞灯在不同波长处光斑位置的坐标偏差值；若坐标偏差值不在偏差允许范围内，则生成探测器装调位置旋转角度不符合...
- 王明佳杨晋冯树龙孙慈姚雪峰宋楠李天骄崔继承葛明达武治国朱继伟
- 文献传递
- 一种单色仪与成像光谱仪的交叉光谱定标装置及方法
- 一种单色仪与成像光谱仪的交叉光谱定标装置及方法，涉及光谱技术领域中的光电仪器技术，解决现有技术无法实现采用同一套装置或方法实现对单色仪与成像光谱仪交叉光谱定标的问题，所述光源系统包括汞灯光源和可调连续光源；光源系统输出光...
- 曹海霞潘明忠巴音贺希格崔继承宋楠杨增鹏
- 文献传递
- 基于微透镜阵列的光谱共焦测距方法及系统
- 本发明涉及光谱共焦测距技术领域，具体提供一种基于微透镜阵列的光谱共焦测距方法及系统，主要是将微透镜阵列应用于光谱共焦测距系统，利用微透镜阵列将平行的复色光分成多个子光束，每个子光束经过准直和色散处理后照射在被测物表面，每...
- 杨晋冯树龙王金雨陈佳奇王明佳孙慈宋楠赵梓彤王添一
- 一种滚柱圆度检测装置
- 本发明公开一种滚柱圆度检测装置，滚柱圆度检测装置包括电感仪和滚柱夹持装置，所述滚柱夹持装置包括基座、磁性定位组件和弹性下压组件；基座包括沿水平方向延伸的第一固定面；磁性定位组件包括具有磁吸力的第二固定面，所述第二固定面沿...
- 姚雪峰齐向东糜小涛唐玉国王明佳宋楠于广东
- 文献传递
- 超宽谱段高分辨率中阶梯光栅光谱仪的光学设计被引量：5
- 2021年
- 为了实现超宽谱段与高分辨率特点兼具的中阶梯光栅光谱仪系统,提出了一种光路结构设计,并针对其深紫外波段的有效探测方法进行了研究及验证。该光路结构结合准Littrow结构与C-T结构的优势,保证了色散光路具备高衍射效率,同时很好地抑制了杂散光。在有限可选光学材料下,采用多重评价优化方式获得中阶梯光栅光谱仪的光学结构参数。通过加入由球透镜及柱透镜组成的校正结构,有效地校正了像差,提高了光谱分辨率。最后,针对深紫外波段探测的解决方案进行模态分析,验证了所设计方案的可行性。最终在160~1000 nm的超宽波段范围内,成像光斑的RMS值优于12.1μm,在257.61 nm处的光谱分辨率优于0.009 nm,能够满足超宽谱段、高分辨率检测系统的色散分光需求。
- 孙慈杨晋朱继伟马婷婷冯树龙宋楠郭雪强郭汉洲
- 关键词：光学设计中阶梯光栅光谱仪高分辨率
- 一种罗兰光栅光谱仪光谱分辨率的检测系统
- 本发明提供的罗兰光栅光谱仪光谱分辨率的检测系统，所述光源出射的光束经所述光纤入射进入所述入射狭缝，通过调节所述入射狭缝的宽度以改变光束入射所述入射狭缝的角度，经所述入射狭缝的光束入射到所述罗兰光栅，经所述罗兰光栅分光后聚...
- 孙慈于昌本崔继承杨晋冯树龙宋楠李天骄
- 文献传递
- 高分辨率光栅光谱仪
- 本发明涉及光谱分析仪器技术领域，尤其涉及一种高分辨率光栅光谱仪，光源单元向第一光线折转结构发出连续光谱；第一光线折转结构将连续光谱中波段不同的光在不同时刻以不同的出射角度向光线整形单元传播；光线整形单元将接收的光束进行整...
- 李晓天冯世波宋楠孙雨琦吉日嘎兰图于硕糜小涛孙慈初启航
- 自准直式中阶梯光栅衍射效率测试装置
- 本发明公开了一种自准直式中阶梯光栅衍射效率测试装置：光源系统用于提供连续光及激光；单色系统用于将光源系统提供的连续光变为单色光出射到测试系统的入口处；测试系统包括第三球面镜、待测中阶梯光栅、待测平面镜及第四平面镜，从入口...
- 孙慈王明佳崔继承杨晋冯树龙李天骄宋楠朱继伟
- 文献传递
- 大型衍射光栅刻划机拉杆结构的分析与改进被引量：5
- 2015年
- 由于大型衍射光栅刻划机刻划系统的双拉杆结构不能使其满足精度指标要求,本文设计了一套单拉杆结构。讨论了石英导轨分度方向弯曲误差产生的原因及其减小该误差的方法,分析和比较了两种拉杆结构的鞍型滑块的受力情况。基于材料力学弯曲变形理论,建立了石英导轨分度方向弯曲误差模型。在该模型的基础上仿真了双、单拉杆结构下刻划系统的石英导轨在分度方向上的弯曲变形误差。最后,使用双频激光干涉仪对石英导轨上的两个特征测量点进行了测量。测量结果显示：改进后的拉杆结构使得石英导轨在两特征测量点处的位移误差由50.36nm降低到小于10nm,满足大型衍射光栅刻划机刻划系统在分度方向上5~10nm的精度指标要求。
- 糜小涛于宏柱于海利姚雪峰宋楠冯树龙齐向东
- 关键词：光栅刻划机
