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周洋

作品数:2 被引量:15H指数:2
供职机构:华中科技大学机械科学与工程学院更多>>
发文基金:国家高技术研究发展计划更多>>
相关领域:电子电信更多>>

文献类型

  • 2篇中文期刊文章

领域

  • 2篇电子电信

主题

  • 2篇IGBT模块
  • 1篇有限元
  • 1篇有限元分析
  • 1篇翘曲
  • 1篇热分析
  • 1篇料层
  • 1篇可靠性
  • 1篇回流焊
  • 1篇回流焊工艺
  • 1篇基板
  • 1篇焊工
  • 1篇
  • 1篇IGBT

机构

  • 2篇华中科技大学

作者

  • 2篇陈明祥
  • 2篇刘胜
  • 2篇周洋
  • 2篇徐玲
  • 2篇张泽峰

传媒

  • 2篇中国电子科学...

年份

  • 1篇2014
  • 1篇2013
2 条 记 录,以下是 1-2
排序方式:
IGBT模块回流焊工艺中预翘曲铜基板的研究被引量:5
2013年
IGBT模块铜基板的平整度对于模块的可靠性至关重要,在工业生产中,往往会通过机械的方法使平整的铜基板预翘曲成凹形,从而达到使铜基板在回流焊之后变得平整目的。基于Anand粘塑性模型,通过有限元的方法建立回流焊工艺模型分析整个回流过程中铜基板翘曲变化。研究了DBC铜层图形对因回流引起的铜基板翘曲的影响,分析了铜基板预翘曲量对回流中基板翘曲变化的影响。研究结果表明,铜层图形对回流中铜基板翘曲的影响较小,预翘曲量的大小对回流中铜基板翘曲变化方向影响较小,回流中基板翘曲变化量近似为一常数。一种有效地分析回流焊工艺过程的方法被提出,为封装工艺工程师提供了重要参考,对工业生产具有重要的指导意义。
周洋徐玲张泽峰陈明祥刘胜
关键词:回流焊
IGBT模块焊料层空洞对模块温度影响的研究被引量:12
2014年
介绍了IGBT模块的封装工艺,分析真空回流焊接过程中焊料层空洞的形成机理,并使用SAM方法检测并测量空洞;接着通过有限元模拟方法对模块进行热分析,对比了焊料层有、无空洞情况下模块的整体温度,具体研究焊料层空洞尺寸、空洞分布位置和焊料层厚度对芯片温度分布的影响。
徐玲周洋张泽峰陈明祥刘胜
关键词:IGBT有限元分析热分析可靠性
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