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张思

作品数:1 被引量:5H指数:1
供职机构:上海大学通信与信息工程学院更多>>
相关领域:电子电信更多>>

文献类型

  • 1篇中文期刊文章

领域

  • 1篇电子电信

主题

  • 1篇同轴
  • 1篇介电
  • 1篇复介电常数

机构

  • 1篇上海大学

作者

  • 1篇钮茂德
  • 1篇徐得名
  • 1篇张思

传媒

  • 1篇微波学报

年份

  • 1篇2002
1 条 记 录,以下是 1-1
排序方式:
开口同轴探头测量微波集成电路基片的复介电常数被引量:5
2002年
本文论述了开口同轴(无外加法兰)非破坏测量微波集成电路基片复介电常数的方法。文中阐明了开口同轴FDTD法的建模与测量原理。由于FDTD法建模是一种全波分析方法,出此该模型相当准确。在S和X波段测量了聚四氟乙烯材料和另一种介质基片的复介电常数,所得结果与它们的典型值非常吻合。开口同轴法测量具有非破坏性,适于现场测量,而且具有设备简单、操作方便、测量精度高等优点。
张思钮茂德徐得名
共1页<1>
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