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基于边界扫描技术的复杂电子设备系统级测试研究被引量：4: 2008年; 以提高复杂电子设备系统级测试能力为目的,在对边界扫描技术进行研究的基础上.论述和总结了基于边界扫描的电子设备系统级测试的硬件结构、测试方案和测试装置,并提出了软件系统的结构设计;同时,按照IEEE1149.5标准的MTM—BUS总线进行了结构设计和功能仿真;实验结果表明,基于边界扫描的系统级测试技术能够广泛应用于现代电子设备,特别是MTM—BUS总线结构具有快速、准确、简单等特点;该研究和设计不仅对复杂电子设备系统级测试技术进行了总结,而且对改善电子设备系统级测试性能具有十分重要的指导意义。; 刘晓斌管壮根陈健袁大伟; 关键词：系统级测试

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刘晓斌