您的位置: 专家智库 > 作者详情>米争锋

米争锋

作品数:2 被引量:14H指数:2
供职机构:成都理工大学核技术与自动化工程学院更多>>
发文基金:中国地质调查局地质调查项目国家高技术研究发展计划更多>>
相关领域:理学更多>>

文献类型

  • 2篇中文期刊文章

领域

  • 2篇理学

主题

  • 2篇化探
  • 2篇化探样品
  • 1篇地质样品
  • 1篇荧光
  • 1篇荧光光谱
  • 1篇荧光光谱分析
  • 1篇谱分析
  • 1篇经验系数法
  • 1篇基本参数法
  • 1篇光谱
  • 1篇光谱分析
  • 1篇光谱分析法
  • 1篇X射线
  • 1篇X射线荧光
  • 1篇X射线荧光光...
  • 1篇X射线荧光光...
  • 1篇
  • 1篇W

机构

  • 2篇成都理工大学
  • 1篇四川省核工业...

作者

  • 2篇葛良全
  • 2篇张庆贤
  • 2篇谷懿
  • 2篇乔鹏
  • 2篇米争锋
  • 1篇杨年

传媒

  • 2篇核电子学与探...

年份

  • 2篇2011
2 条 记 录,以下是 1-2
排序方式:
X射线荧光光谱分析法同时测定化探样品中多组分的含量被引量:10
2011年
采用粉末压片制样法,利用PANalytical Axios型波长色散X荧光光谱仪同时对化探样品中的Fe2O3、Al2O3、Cr、Co、Ni、Cu、Zn、Pb等36种主、次和痕量组分进行测定。采用基本参数法,结合PH模式的经验系数法校正光谱干扰和集体效应。用国家标准物质做检验,测量结果与标样认定值吻合,用国家一级标准物质GBW 07401做精密度试验,统计结果RSD(n=10)除Br、Ce、Co、Ge、La、Mo、U、Sn、Sc和Nd小于10%,其余均小于5%。
乔鹏葛良全张庆贤谷懿米争锋
关键词:X射线荧光光谱分析化探样品基本参数法经验系数法
能量色散X射线荧光分析现场测定地质样品中W(钨)含量被引量:6
2011年
采用IED-2000能量色散X射线荧光仪测量化探样品,并对获得的仪器谱进行散射本底扣除和直接解调谱线重建,获得W的Lα特征X射线全能峰净峰面积,从而实现W含量的测量。对同一批化探样品进行室内波长色散X射线荧光分析和野外X射线荧光分析,其分析结果对比表明对能量色散X射线荧光仪进行谱线处理后,可以在野外现场对W元素实现半定量分析,为野外现场W元素测量提供了方法。
张庆贤葛良全杨年乔鹏米争锋谷懿
关键词:化探样品
共1页<1>
聚类工具0