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夏晓云

作品数:2 被引量:4H指数:1
供职机构:合肥工业大学计算机与信息学院更多>>
发文基金:国家自然科学基金更多>>
相关领域:自动化与计算机技术更多>>

文献类型

  • 2篇中文期刊文章

领域

  • 2篇自动化与计算...

主题

  • 2篇液晶屏
  • 2篇MAPRED...
  • 1篇图像
  • 1篇分辨率
  • 1篇分布式
  • 1篇分布式检测
  • 1篇分类器
  • 1篇高分辨率
  • 1篇高分辨率图像
  • 1篇SVM分类
  • 1篇SVM分类器
  • 1篇C-V模型
  • 1篇HADOOP

机构

  • 2篇合肥工业大学

作者

  • 2篇张仁斌
  • 2篇谢瑞
  • 2篇王聪
  • 2篇夏晓云

传媒

  • 1篇计算机应用研...
  • 1篇计算机工程与...

年份

  • 1篇2017
  • 1篇2016
2 条 记 录,以下是 1-2
排序方式:
基于MapReduce的液晶屏缺陷检测方法被引量:3
2017年
5^(th)液晶屏在生产过程中会产生多种类型的缺陷,通过单一节点进行缺陷检测存在存储资源和计算时间的瓶颈。利用Hadoop集群的分布式计算、存储能力处理海量的高分辨率液晶屏图像是一个新的思路。针对高分辨液晶屏图像缺陷局部性特点,设计基于MapReduce的分布式缺陷检测方法,对高分辨率图像分块,并行完成每块图像的缺陷检测,再将检测结果归并,从而解决高分辨率图像缺陷检测效率低下问题。通过运行在Hadoop平台上的实验表明,该方法在完成缺陷检测的同时具有良好的效率提升。
夏晓云张仁斌谢瑞王聪
关键词:HADOOP高分辨率图像MAPREDUCE
液晶屏模糊边缘缺陷分布式检测方法被引量:1
2016年
第六代液晶屏在生产过程中会产生多种类型的缺陷,通过单机进行缺陷检测存在存储资源和计算时间的瓶颈。利用Hadoop集群优势处理海量的高分辨率液晶屏图像是一个新的思路。针对线阵CCD(charge-coupled device)相机采集特点,提出一种基于MapReduce的分布式缺陷检测方法,使用改进的C-V图像分割模型,完成液晶屏模糊边缘的缺陷分割,对处于子图边缘的缺陷进行二次缺陷提取,提高缺陷检测的准确率,并采用SVM(support vector machine)分类器完成缺陷的分类。实验表明,该方法提高检测效率的同时降低了缺陷的误判率,为分布式存储分块图像、缺陷测量等相关研究奠定了基础。
夏晓云张仁斌谢瑞王聪
关键词:MAPREDUCEC-V模型SVM分类器
共1页<1>
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