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张卫卫

作品数：2 被引量：2H指数：1
供职机构：华为技术有限公司更多>>
发文基金：教育部“新世纪优秀人才支持计划”更多>>
相关领域：核科学技术电子电信自动化与计算机技术更多>>

合作作者

文献类型

  • 1篇期刊文章
  • 1篇会议论文

领域

  • 1篇电子电信
  • 1篇自动化与计算...
  • 1篇核科学技术

主题

  • 2篇软错误
  • 2篇静态存储器
  • 2篇Α源
  • 2篇存储器

机构

  • 2篇西安交通大学
  • 2篇华为技术有限...

作者

  • 2篇张卫卫
  • 2篇李晓林
  • 2篇肖江波
  • 2篇王宏全
  • 2篇杨秀培
  • 1篇夏春梅
  • 1篇任学明
  • 1篇褚俊
  • 1篇贺朝会

传媒

  • 1篇原子能科学技...
  • 1篇第四届北京核...

年份

  • 2篇2006
共 2 条 记 录，以下是 1-2
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排序方式：
应用α源评估静态存储器的软错误被引量：2
2006年
存储器的软错误直接关系到产品的可靠性，为比较3种器件的抗软错误能力，实验测量了3种静态存储器（SRAM）的单粒子翻转错误数，计算了单粒子翻转截面和失效率。从单粒子翻转截面角度讲，A166M器件抗α粒子的能力最好，其次为B166M，最差是B200M。从失效率的角度讲，B166M的平均失效率比B200M的小，且两者都比A166M的小。
贺朝会杨秀培张卫卫褚俊任学明夏春梅王宏全肖江波李晓林
关键词：Α源静态存储器软错误
应用α源评估静态存储器的软错误
存储器的软错误直接关系到产品的可靠性,为比较3种器件的抗软错误能力,实验测量了3种静态存储器(SRAM)的单粒子翻转错误数,计算了单粒子翻转截面和失效率。从单粒子翻转截面角度讲, A166M器件抗α粒子的能力最好,其次为...
贺朝会杨秀培张卫卫褚俊任学明夏春梅王宏全肖江波李晓林
关键词：Α源静态存储器软错误
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