杨秀培
- 作品数：3 被引量：2H指数：1
- 供职机构：华为技术有限公司更多>>
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- 相关领域：自动化与计算机技术核科学技术电子电信理学更多>>
- 应用α源评估静态存储器的软错误被引量：2
- 2006年
- 存储器的软错误直接关系到产品的可靠性，为比较3种器件的抗软错误能力，实验测量了3种静态存储器（SRAM）的单粒子翻转错误数，计算了单粒子翻转截面和失效率。从单粒子翻转截面角度讲，A166M器件抗α粒子的能力最好，其次为B166M，最差是B200M。从失效率的角度讲，B166M的平均失效率比B200M的小，且两者都比A166M的小。
- 贺朝会杨秀培张卫卫褚俊任学明夏春梅王宏全肖江波李晓林
- 关键词：Α源静态存储器软错误
- 应用α源评估静态存储器的软错误
- 存储器的软错误直接关系到产品的可靠性,为比较3种器件的抗软错误能力,实验测量了3种静态存储器(SRAM)的单粒子翻转错误数,计算了单粒子翻转截面和失效率。从单粒子翻转截面角度讲, A166M器件抗α粒子的能力最好,其次为...
- 贺朝会杨秀培张卫卫褚俊任学明夏春梅王宏全肖江波李晓林
- 关键词：Α源静态存储器软错误
- 文献传递
- 应用α源评估静态存储器的软错误
- 存储器的软错误直接关系到产品的可靠性,为比较3种器件的抗软错误能力,实验测量了3种静态存储器(SRAM)的单粒子翻转错误数,计算了单粒子翻转截面和失效率.从单粒子翻转截面角度讲,A166M器件抗α粒子的能力最好,其次为B...
- 贺朝会杨秀培张卫卫褚俊任学明夏春梅王宏全肖江波李晓林
- 关键词：Α源存储器软错误单粒子
- 文献传递
