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陈敏聪

作品数:8 被引量:27H指数:3
供职机构:南京工程学院计算机工程学院更多>>
相关领域:核科学技术理学医药卫生金属学及工艺更多>>

文献类型

  • 7篇期刊文章
  • 1篇学位论文

领域

  • 5篇核科学技术
  • 3篇理学
  • 1篇金属学及工艺
  • 1篇医药卫生
  • 1篇文化科学

主题

  • 4篇射线
  • 4篇X射线
  • 2篇阵列
  • 2篇双能
  • 2篇双组分
  • 2篇线阵
  • 2篇线阵列
  • 2篇串扰
  • 1篇应用型本科
  • 1篇应用型本科院...
  • 1篇院校
  • 1篇数据获取
  • 1篇同步采样
  • 1篇线阵CCD
  • 1篇密度测量
  • 1篇教育
  • 1篇均匀性
  • 1篇骨密度
  • 1篇骨密度测量
  • 1篇高等教育

机构

  • 4篇南京工程学院
  • 4篇中国科学技术...

作者

  • 8篇陈敏聪
  • 3篇陈子瑜
  • 3篇李红梅
  • 3篇沈激
  • 1篇刘勤

传媒

  • 2篇核电子学与探...
  • 1篇电子测量技术
  • 1篇中国科学技术...
  • 1篇核技术
  • 1篇无损检测
  • 1篇科教导刊

年份

  • 1篇2014
  • 1篇2013
  • 2篇2011
  • 1篇2009
  • 3篇2008
8 条 记 录,以下是 1-8
排序方式:
应用型本科院校学生培养的若干思考
2013年
本文从学校政策差异化定位,教师差异化教学和学生的差异化管理三个不同出发点,结合作者的教学实践,提出了应用型本科院校学生培养的若干思考。
陈敏聪刘勤
关键词:应用型本科高等教育差异化
线阵CCD数据获取方法研究与设计被引量:13
2008年
准确的实现输出图像信号的放大及模数转换是CCD图像数据获取的关键;文章在同步采样原理的基础上提出了一种适合线阵CCD的高精度同步采样方法;方法主要包括模拟信号的放大、峰值保持和同步采样。研究表明,采用峰值保持后的采集,显著改善了图像数据的稳定性。文中介绍了该方法的系统设计及实现,并用条码对系统性能进行了测试分析。
李红梅陈敏聪陈子瑜沈激
关键词:线阵CCDFPGA同步采样数据获取
X射线双组分质量厚度测量优化能量组合被引量:1
2011年
介绍了用X射线等效能量法计算双组分物质质量厚度的方法,该方法在计算过程中采用单组分物质的等效质量衰减系数来替代双组分的等效质量衰减系数。通过射线吸收模拟实验,理论上计算了该方法的误差,结果表明在理论计算的双组分样品厚度范围内,该方法可以达到很好的精度,具备可行性。同时讨论了不同高压组合对质量厚度计算误差的影响。发现在固定一个高压的前提下,存在一个最佳低压,可以使质量厚度计算误差最小。
陈敏聪
关键词:双能X射线
扇束双能X射线骨密度测量方法研究
本文研究了用双能X射线吸收法进行骨密度测量的方法。X光管出来的X射线由连续谱和特征谱组成,连续谱是由一系列能量连续分布的光子组成,不同能量的光子穿过物质时会发生不同的衰减,称为射线的硬化。本文讨论了用硬件和软件的方法来进...
陈敏聪
关键词:骨密度
X射线线阵列探测器均匀性研究被引量:2
2011年
实验测试了芬兰X-SCAN0.4f线阵列探测器在X射线扫描前后的成像均匀性。得出扫描前阵列探测器各单元的本底输出随时间的漂移规律和扫描后各单元对X射线的响应规律。结果发现阵列探测器各单元扫描前后的响应均存在不一致性。通过偏置和增益的校准虽然可以达到各单元响应的一致性,但没有真正解决各单元响应不一致的问题,这对定量计算会产生误差。用蒙特卡罗方法计算了不同厚度GOS闪烁晶体对不同能量入射光子的能量沉积效率和晶体阵列间的串扰,分析了可能引起不均匀性的原因之一的串扰问题。模拟结果给出了阵列单元间的串扰与晶体的尺寸和入射X射线的能量的定量关系,为下一步探测器结构的改进和软件的修正提供了依据。
陈敏聪
关键词:X射线线阵列均匀性串扰
线阵列探测器串扰试验被引量:1
2014年
通过对芬兰DT公司生产的XSCAN0.4f线阵列探测器进行串扰试验,分析了X射线源的分布和光子在不同角度入射时对阵列探测器串扰的影响。介绍了探测器试验校准过程,包括偏置和增益的校准。讨论了准直狭缝试验和边沿试验中探测器的位置分辨力,发现在阵列探测器各单元工作性能稳定的情况下,串扰和散射是影响扫描图像均匀性的重要因素,而且相同能量的光子在垂直入射与斜入射情况下产生的串扰不同。
陈敏聪
关键词:线阵列串扰
X射线质量厚度测量研究被引量:5
2008年
拟合了能量在200 keV以下的中低能光子质量减弱系数的实验数据,发现基于光电效应,瑞利散射和康普顿散射的半经验公式能够精确地模拟光子质量减弱系数的实验数据.计算了X射线管发出的连续能谱X射线经过吸收片过滤后的能谱分布,发现能谱呈峰形.将它用作物质的透射模拟实验,发现在一定厚度范围内,它与某单能光子的强度减弱规律相同而等效.利用拟合求得的减弱系数半经验公式,求出并讨论了这一等效能量的数值和规律.讨论了X射线束的光电流和光子计数两种探测方式,计算发现经过低能过滤后的X射线,两者都能够反映强度减弱规律.进行了吸收实验,证明低能过滤X射线束的能量探测的确可以用来进行物质的质量厚度测量.
陈敏聪陈子瑜李红梅沈激
关键词:X射线
用双能X射线测量双组分物质的质量厚度被引量:2
2008年
通过加吸收片的方法,获得样品在给定高压下的X射线等效能量,可用来测量该样品的质量厚度。本文讨论了测量双组分样品质量厚度的方法,发现在实验的双组分样品厚度范围内,用单组分样品的等效质量衰减系数代替双组分样品中该组分的质量衰减系数来计算双组分样品的质量厚度,具备可行性,测量结果的误差在5%以内。测量实物鱼体,求解出鱼体的软组织和骨组织的质量厚度,进一步证明在双组分样片厚度不大的情况下,这种测量方法的现实可行性。
陈敏聪李红梅陈子瑜沈激
关键词:双能X射线
共1页<1>
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