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郭跃伟

作品数：2 被引量：0H指数：0
供职机构：电子科技大学微电子与固体电子学院更多>>
相关领域：电子电信更多>>

合作作者

文献类型

  • 2篇国内会议论文

领域

  • 2篇电子电信

主题

  • 2篇电导
  • 2篇电导法
  • 2篇界面态
  • 1篇可靠性
  • 1篇可靠性分析
  • 1篇寄生电容

机构

  • 2篇电子科技大学

作者

  • 2篇郭宇恒
  • 2篇张富
  • 2篇荣丽梅
  • 2篇袁之光
  • 2篇郭跃伟
  • 2篇杜江峰

传媒

  • 1篇2010年全...

年份

  • 2篇2010
共 2 条 记 录，以下是 1-2
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排序方式：
CCD-MOS高精度界面态的测试研究
高精度界面态测试是CCD-MOS可靠性研究的关键问题。分析了电导法测试的误差,讨论了采用Agilent 4294A电导法测试能达到的精度,并建立模型分析研究了寄生电阻、寄生电容和误差的关系,也对CCD-MOS样品进行了测...
袁之光荣丽梅张富杜江峰郭跃伟郭宇恒
关键词：电导法界面态
文献传递
CCD-MOS高精度界面态的测试研究
高精度界面态测试是CCD-MOS可靠性研究的关键问题。分析了电导法测试的误差,讨论了采用Agilent 4294A电导法测试能达到的精度,并建立模型分析研究了寄生电阻、寄生电容和误差的关系,也对CCD-MOS样品进行了测...
袁之光荣丽梅张富杜江峰郭跃伟郭宇恒
关键词：电导法界面态可靠性分析寄生电容
文献传递
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