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何燕东

作品数：3 被引量：0H指数：0
供职机构：北京大学更多>>

合作作者

文献类型

  • 3篇中文专利

主题

  • 2篇软件系统
  • 2篇分析软件
  • 2篇分析软件系统
  • 2篇半导体
  • 2篇半导体器件
  • 2篇测试仪器
  • 1篇电路
  • 1篇读取方法
  • 1篇灵敏放大器
  • 1篇漏极
  • 1篇接口
  • 1篇接口卡
  • 1篇函数
  • 1篇多值
  • 1篇分析程序
  • 1篇分析方法
  • 1篇测试程序
  • 1篇测试台
  • 1篇存储电路

机构

  • 3篇北京大学

作者

  • 3篇何燕东
  • 2篇许铭真
  • 2篇谭长华
  • 2篇刘晓卫
  • 2篇卫建林
  • 2篇解冰
  • 1篇高晓敏
  • 1篇王源
  • 1篇杜刚
  • 1篇康晋锋
  • 1篇张兴

年份

  • 1篇2012
  • 1篇2003
  • 1篇2000
共 3 条 记 录，以下是 1-3
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排序方式：
多值存储电路的读取电路及读取方法
本发明公开了一种多值存储电路的读取电路及读取方法，包括：第一灵敏放大器、第二灵敏放大器、第三灵敏放大器、n型MOS晶体管和p型MOS晶体管；所述第一灵敏放大器、第二灵敏放大器和第三灵敏放大器分别接收选中单元和不同参考单元...
王源高晓敏何燕东杜刚康晋锋张兴
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半导体参数分析系统
本发明涉及一种半导体器件参数分析系统。包括半导体参数测试仪器，计算机，测试台，计算机与测试仪器接口卡，半导体参数分析软件系统。半导体参数测试仪器测量完整的半导体器件I-V输出特性；半导体参数分析软件系统对测得的I-V特性...
许铭真谭长华何燕东卫建林解冰刘晓卫
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半导体参数分析方法及其系统
本发明涉及一种半导体器件参数比例差值算符分析方法及其系统。先通过半导体参数测试仪器测量完整的半导体器件Ⅰ－Ⅴ输出特性,然后通过比例差值算符分析软件系统对上述Ⅰ－Ⅴ特性进行比例差值处理,得到相应的比例差值Ⅰ－Ⅴ函数特性和半...
许铭真谭长华何燕东卫建林解冰刘晓卫
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